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晶體管光耦參數測試儀(雙功能版)

參考價 16011
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱陜西博微電通科技有限責任公司
  • 品       牌
  • 型       號BW-3010B
  • 所  在  地西安市
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2025/3/11 16:23:20
  • 訪問次數6
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  陜西博微電通科技有限責任公司是一家致力于高精度半導體測試設備、電力電子設備、電池安全管理系統及電力儲能解決方案的集研發、生產、銷售的高科技企業。
 
  公司位于古城西安西咸新區灃東新城能源金貿區,地理位置環境便利,依托西安眾多高校及研究所,公司擁有一批高素質人才隊伍,從軟件開發、硬件設計、系統集成、產品升級迭代及售后服務均由專業技術人員完成,多年來公司與深圳、西安、杭州等多家高科技企業合作開發出針對半導體測試、電力電子、能源管理系統系列產品,經過技術迭代,產品功能優質,產品質量可靠,市場口碑優秀。
 
  公司注重產品質量,更注重客戶服務滿意度及產品體驗,每一款產品出廠前都經過嚴格的檢驗或第三方機構監測,并持續優化產品功能、根據客戶需求定制或迭代升級產品。我們秉承“博厚共贏、服務入微”理念竭誠為每一位客戶提供全面、高品質的產品與服務,幫助解決客戶實際使用痛點,開發難點,節約生產成本提高工作效率,助力行業發展。
 
  半導體測試系統:(Semiconductor test system)
 
  針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC半導體測試產品,廣泛應用于半導體企業測試計量、封裝測試、IDM測試、晶圓測試、DBC測試以及科研教學、智能電力、軌道交通、新能源汽車、白色家電等元器件應用端產業鏈的來料檢驗、器件選型及科研院所、實驗室的數據驗證分析和研發指導等。
 
  半導體測試設備可針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC可進行高精度靜態參數測試(包括導通、關斷、擊穿、漏電、增益等直流參數)測試精度可達16位ADC;動態雙脈沖(包括Turn_ON_L/Turn_OFF_L/FRD/Qg)及Rg/UIS/SC/C/RBSOA測試等;環境老化測試(包括HTRB/HTGB/H3TRB/Surge/間歇壽命IOL/功率循環PCT3000 )及熱特性測試(包括PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)半導體器件測試設備/雪崩耐量測試UIS、二極管浪涌測試IFSM、熱阻測試、晶閘管直流參數測試SCR、安全工作區正偏/反偏/短路安全工作區測試SOA,各類型探針臺、高精度高低溫箱及分立器件分選機系統等。
 
  BMS系統及電力儲能:(Battery safety management and energy storage system)
 
  電池安全管理系統主要是針對電池、蓄電池組、儲能系統安全及應用電池全生命周期系統解決方案,主要產品覆蓋儲能電池BMS、后備電池BMS、動力電池BMS和電池監控數據平臺等,產品廣泛應用于儲能,云計算,數據中心,通信網絡,軌道交通,以及商業和工業設施關鍵電源領域,將成為國家綠色能源轉型重要系統保障。
 
  4、企業使命:
 
  以社會責任為己任
 
  助力中國半導體行業“博大”&“精微”發展
 
  助力中國能源行業安全綠色發展
 
  5、企業愿景:
 
  成為中國半導體測試及能源安全管理優秀企業
 
  6、企業價值觀:
 
  搏厚共贏、服務入微
 
半導體測試設備,半導體可靠性測試,雪崩浪涌測試,半導體教學實驗室
BW-3010B型光藕參數測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數測試及參數”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試。 ,BW-3010B為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降(VF)和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡化了系統的操作和編程,提供了快速的一次測試條件和測試參數的設定,測試條件及數據同步存入EEPROM中,測試條件可以任意設
晶體管光耦參數測試儀(雙功能版) 產品信息

 BW-3010B

晶體管光耦參數測試儀(雙功能版)


BW-3010B型光藕參數測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數測試及參數”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試。 ,BW-3010B為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降(VF)和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡化了系統的操作和編程,提供了快速的一次測試條件和測試參數的設定,測試條件及數據同步存入EEPROM中,測試條件可以任意設置,測試正向壓降和輸出電流可達1A,操作簡便,實用性強。廣泛應用與半導體電子行業、新能源行業、封裝測試、家電行業、科研教育等領域來料檢驗、產品選型等重要檢測設備之一。

 

產品電氣參數:

 

產品信息

產品型號:BW-3022A

產品名稱:晶體管光耦參數測試儀;

物理規格

主機尺寸:深 305*寬 280*高 120(mm)

主機重量:<4.5Kg

主機顏色:白色系

電氣環境

主機功耗:<75W

環境要求:-20℃~60℃(儲存)、5℃~50℃(工作);

相對濕度:≯85%;

大氣壓力:86Kpa~106Kpa;

防護條件:無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導電粉塵等;

電網要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;

工作時間:連續;


服務領域:

 

晶體管光耦參數測試儀(雙功能版)

     應用場景:

    ?選型配對(在器件焊接至電路板之前進行全部測試,將測試數據比較一致的器件進行分類配對)

    ?檢驗篩選(研究所及電子廠的質量部(IQC)對入廠器件進行抽檢/全檢,把控器件的良品率)

    產品特點:

    ?大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方面簡單

    ?大容量EEPROM存儲器,儲存量可多達1000種設置型號數.

    ?全部可編程的DUT恒流源和電壓源.

    ?內置繼電器矩陣自動連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路.

    ?高壓測試電流分辨率1uA,測試電壓可達1500V;

    ?重復”回路”式測試解決了元件發熱和間歇的問題;

    ?軟件自校準功能;

    ?自動測試測DUT短路、開路或誤接現象,如果發現,就立即停止測試;

    ?DUT的功能檢測通過LCD顯示出被測器件/DUT的類型,顯示測試結果是否合格,并有聲光提示;

    ?兩種工作模式:手動、自動測試模式。

 

         BW-3010B主機和DUT的管腳對應關系

 

型號類型

P1

 T1

P2

 T2

P3

T3

P4

T4

光藕PC817

A

A測試端

K

K測試端

E

E測試端

C

C測試端

 

 

 

 BW-3010B測試技術指標:

1、光電傳感器指標:

輸入正向壓降(VF)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2V

2mV

<1%+2RD

0-1000MA



反向電流(Ir)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-200UA

0.2UA

<2%+2RD

VR:0-20V



集電極電流(Ic)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-40mA

0.2MA

<1%+2RD

VCE:0-20V IF:0-40MA

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

輸出導通壓降(VCE(sat))

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2.000V

2mV

1% +5RD

IC:0-40mA

IF:0-40mA

 

 

 

 

輸出漏電流(Iceo)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2.000mA

2UA

<2%+2RD

VR:0-20V

 

 

 

 

 

2、光電耦合器:

耐壓(VCEO)測試指標

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-1400V

1V

<2%+2RD

0-2mA

 

 

 

輸入正向壓降(VF)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2V

2mV

<1%+2RD

0-1000MA

 

 

 

反向漏電流(ICEO)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2000uA

1UA

<5% +5RD

BVCE=25V

 

 

 

反向漏電流(IR)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2000uA

1UA

<5% +5RD

VR=0-20V

 

 

 

電流傳輸比(CTR)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-9999

1%

1% +5RD

BVCE:0-20V

IF:0-100MA

 

 

 

 

輸出導通壓降(VCE(sat))

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2.000V

2mV

1% +5RD

IC:0-1.000A

IF:0-1.000A

 

 

 

 

可分檔位總數:10檔

 

       BW-3010B測試定義與規范:

AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極.

VF:IF: 表示測試光耦輸入正向VF壓降時的測試電流.

Vce:Bv:表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電壓.

Vce:Ir: 表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電流.

CTR:IF:表示測試光耦傳輸比時輸入端的測試電流。

CTR:Vce:表示測試光耦傳輸比時輸出端的測試電壓。

Vsat:IF:表示測試光耦輸出導通壓降時輸入端的測試電流。

Vsat:Ic:表示測試光耦輸出導通壓降時輸出端的測試電流。

 


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