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晶體管參數測試系統

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱西安中昊芯測科技有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號SC2020
  • 所  在  地西安市
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2025/3/11 11:42:33
  • 訪問次數7
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  西安中昊芯測科技有限公司,是一家專業從事半導體電性能測試設備開發制造、電參數測試方案搭建、綜合測試分析服務于一體的技術服務型企業,
 
  核心業務為半導體分立器件電學參數測試設備的開發制造,產品主要涉及分立器件測試儀、MOS管測試儀、IGBT測試儀、晶閘管測試儀、光耦測試儀、
 
  繼電器測試儀、功率循環、環境老化、雪崩浪涌等測試系統,產品具有高速智能、高精度、寬量程等技術優勢,已經廣泛應用于高校、科院院所、家電、
 
  新能源汽車、軌道交通、半導體器件設計制造公司的器件測試驗證、參數評估、電子廠來料檢驗、實驗室失效分析、器件選型、參數配對、壽命預估等諸多領域。
 
  同時提供高性價比的器件測試服務,測試項目包括功率半導體器件的電學測試、失效分析、可靠性、環境試驗等。
 
  我司與西安電力電子所,西安交通大學微電子學院有著深度合作關系,在半導電測試領域有著超過10年的行業經驗。本著科技創新,服務無限的經營理念,
 
  我司積極響應國家提出的中國制造2025戰略,致力于提供高性能、低成本的國產測試設備,為我國半導體測試設備國產化貢獻一份微薄力量!
 
半導體分立器件測試系統,晶體管靜態參數測試儀,美國STI5000系列測試機維修、計量校準、夾具定制等相關技術服務,非標測試方案搭建!
SC2020晶體管參數測試系統是我司自主研發的半導體分立器件電學參數測試的專用設備,主要用于半導體器件生產廠家進行圓片中測或封裝成測,各類整機廠家、科研院所的質量檢測部門IQC進行來料檢驗,研發部門進行失效分析、選型配對、可靠性分析測試。系統可參數測試也可曲線掃描,測試種類多達19大類26分類,測試種類多,參數全,精度高,速度快!
晶體管參數測試系統 產品信息

 SC2020晶體管參數測試系統

系統概述

SC2020晶體管參數測試系統一款半導體分立器件電學參數測試的專用設備主要用于半導體器件生產廠家進行圓片中測或封裝成測,各類整機廠家、科研院所的質量檢測部門IQC進行來料檢驗研發部門進行失效分析、選型配對、可靠性分析測試。

系統為桌面放置的臺式機結構,由測試主機和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器,還能夠通過Prober接口、Handler接口可選(16Bin)連接分選機和機械手建立工作站,實現快速批量化測試。通過軟件設置可依照被測器件的參數等級進行自動分類存放。能夠應對“來料檢驗 ”“失效分析 ”“選型配對 ”“量產測試 ”等不同應用場景。

系統軟件基于Labview平臺開發,填充式菜單界面,帶自動糾錯功能,可進行器件參數的分檔、分類編程,并可實時顯示和記錄分檔、分類測試結果,測試結果和統計結果均可以EXCEL格式存貯于計算機中,根據需要可以打印輸出。

系統特點

◆  系統采用大規模32ARM&MCU設計

◆  可測試7大類26分類的電子元器件

◆  程控高壓源1400V,提供2000V選配

◆  程控高流源40A,提供100A,200A,500A 選配

◆  控制極電壓40V,電流100mA

◆  系統數據采集采用16位ADC,1M/S采樣速率

◆  測試漏流分辨率1.5pA

◆  四線開爾文連接保證加載測量的準確

◆  Prober接口、Handler接口可選(16Bin)

◆  連接分選機測試量可達每小時1萬個

◆  可為用戶提供豐富的測試適配器

◆  選配測試結電容,諸如Ciss,Crss,Coss

◆  系統符合GJB128半導體分立器件試驗方法》等相關準。

系統指標

技術指標

系統功能模塊

量程范圍

分辨率

精度

低壓源(FV)

0±40V

1uV

±0.1%

低流源(FI)

0±100mA

1pA

±0.1%

高壓源HVS

0±1400V/2000V

1mV

±0.5%

HIS

0±40A/100A/200A/500A

1uA

±1%

電壓測量(MV)

0±1400V/2000V

1uV

±0.1%

電流測量(MI)

0±40A/100A/200A/500A

1pA

±0.1%

 

測試能力

器件種類

測試參數

二極管類

(含TVS SBD ZENER整流橋)

BVRIRVFVZRZ、ZZ、Vrrm、Irrm、Tr(選配)

三極管

BVCBO、BVCEO、BVCES、BVEBO、HFE、ICBO、ICEO、ICES、IEBO、VBESAT、VCESATVBE選配(Ciss、Coss、Crss

可控硅/雙向可控硅

IGTVGTVTMVDRMVRRMIH、ILIDRM、IRRM

場效應管

VGSTH、IDSS、BVDSS、VDSON、IGSS、VSD、VGSON、IDON、RDSON、GFS、選配(Ciss、Coss、Crss

IGBT

BVCES、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VCEONVGEON、VFICON、選配(Ciss、Coss、Crss

壓敏電阻

VRRMVDRMIRRMIDRMCka

光耦

VF、IR、BVCEO、VFIRBVCEOBVECOICEOCTRVCESAT

選配(Tr、Tf

/四端穩壓器

VoutIin、IB、VD、Max_loRo

繼電器

VfIrVlIlIftRon選配(TonToff

功率驅動器、

高邊功率開關

Vbb(AZ)、Von(CL)、RsonIbb(off)、Il(lim)、CossFun_pin_voltlvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、linIinhls_VoltSr_volt

電壓保護器

VrrmVdrmIrrmIdrmCkaVr

基準IC模塊

Vref、 △Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka

傳感監測類

電流傳感器(ACS712XX系列、CSNR_15XX系列)(選配);

霍爾器件(MT44XX系列、A12XX系列)(選配);

電壓監控器(選配);電壓復位IC(選配);

應用領域及場景

>測試分析(功率器件研發設計階段的初始測試)

>失效分析(對失效器件進行測試,查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案)

>選型配對(在器件焊接至電路板之前進行全部測試,將測試數據比較一致的器件進行分類配對)

>來料檢驗(研究所及電子廠的質量部(IQC)對入廠器件進行抽檢/全檢,把控器件的良品率)

>量產測試(可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備,實現規模化、自動化測試)

 


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