合能陽光無接觸少子壽命測試儀（HS-MWR-SIM），是一款功能強大的無接觸少子壽命測試儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷單點少子壽命測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平衡載流子壽命的，并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進行特殊處理。少子壽命測試量程從0.5μs到300μs,P型電阻率量程為0.8-100Ω.cm,N型電阻率量程為0.5-100Ω.cm，是太陽能電池硅片企業、多晶鑄錠企業、拉晶企業*的測量儀器。
無接觸少子壽命測試儀-產品特點
■ 無接觸和無損傷測量
■ 可移動掃描頭，便于測量
■ 測試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測量
■ 主要應用于硅棒硅塊、硅片的進廠、出廠檢查，生產工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監控等
■ 性價比高，*程度地降低了企業的測試成本
■ 質保期：1年
北京合能陽光新能源技術有限公司是一家硅材料檢驗儀器及服務提供商，提供全面的硅料、單晶硅片、多晶硅片等成套檢驗設備及*解決方案。同時，拉單晶生產所需的輔料也是我公司主營范圍之
少子壽儀，紅外探傷儀，氧碳含量儀，橢楄儀，型號測試儀，電阻率測試儀，藍寶石等檢測設備
無接觸少子壽命測試儀 產品信息
