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鍍銀層X(jué)射線測(cè)厚儀

參考價(jià) 14
訂貨量 ≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng)深圳市精誠(chéng)儀器儀表有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)代理商
  • 更新時(shí)間2024/2/6 9:47:28
  • 訪問(wèn)次數(shù)186
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深圳市精誠(chéng)儀器儀表有限公司,自創(chuàng)立以來(lái)以?xún)?yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和服務(wù)及良好的信譽(yù),
得到了廣大用戶(hù)的認(rèn)可,在業(yè)界迅速發(fā)展。

公司主要從事進(jìn)口實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)設(shè)備和分析儀器的代理銷(xiāo)售及其相關(guān)的售后服務(wù)

產(chǎn)品涵蓋半導(dǎo)體、PCB及電子電鍍,水處理等
針對(duì)不同客戶(hù),我司亦有以下產(chǎn)品可供選擇:
日本共立測(cè)試包總代理
主營(yíng)產(chǎn)品介紹:X光鍍層測(cè)厚儀、韓國(guó)XRF-2000測(cè)厚儀、XRF-2020測(cè)厚儀

PCB孔銅測(cè)厚儀,特性阻抗檢測(cè)儀,
共立水質(zhì)測(cè)試包,
水質(zhì)測(cè)試包,COD污水測(cè)試包、
共立水質(zhì)測(cè)試包、水質(zhì)分析儀 公司本著“科技為先,質(zhì)量為重,誠(chéng)信服務(wù)”的宗旨
竭誠(chéng)為您提供高品質(zhì)的產(chǎn)品和優(yōu)良的服務(wù),與您攜手共創(chuàng)美好未來(lái)。...


X射線鍍層測(cè)厚儀,日本共立測(cè)試包,電鍍測(cè)厚儀,X-RAY膜厚儀
韓國(guó)XRF-2000X射線膜厚儀測(cè)量精度,
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鍍銀層X(jué)射線測(cè)厚儀:檢測(cè)范圍0.3-10um
鍍銀層X(jué)射線測(cè)厚儀 產(chǎn)品信息

鍍銀層X(jué)射線測(cè)厚儀:檢測(cè)范圍0.3-10um

 

XRF-2000電鍍層測(cè)厚儀

 

檢測(cè)電子電鍍,化學(xué)鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鍍鋅,鍍銀,鍍鋅鎳等...

測(cè)量的厚度范圍為0.03微米~35微米。

可測(cè)單層、雙層、多層、合金鍍層測(cè)量,不限底料。

 

XRF-2000鍍層測(cè)厚儀三型號(hào)

 

不同型號(hào)各種功能相同

機(jī)箱容納樣品大小有以下不同要求

XRF-2000H型:測(cè)量樣品高度不超過(guò)10cm  (長(zhǎng)寬55cm)

XRF-2000L型:測(cè)量樣品高度不超過(guò)3cm   (長(zhǎng)寬55cm)

XRF-2000PCB型:測(cè)量樣品高度不超3cm,PCB

 

XRF-2000可測(cè)六.誤差如下:*(5%).第二(8%).第三(12%).第四(20%).第五(25%).第六層為底材.乎不同原素不同厚度有所不同

 

韓國(guó)先鋒XRF-2000鍍層測(cè)厚儀測(cè)量范圍.

 

Au  0.03-4um

Pd  0.03-4um

Ni  0.05-20um

Ni-P 0.05-20um

Sn 0.05-80um

Ag  0.03-20um

Cr  0.05-20um

Zn  0.05-20um

ZnNi 0.05-20um

SnCu 0.05-20um

 

韓國(guó)XRF-2000X射線鍍金層測(cè)厚儀

 

檢測(cè)電鍍層厚度,可檢測(cè)鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍錫,鍍鋅,鍍鉻,鍍鈀等
可測(cè)量單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層

單鍍層:如銅上鍍鎳,銅上鍍銀,銅上鍍錫,鐵上鍍鎳等,不限底材
雙鍍層:銅上鍍鎳鍍金,鐵上鍍銅鍍鎳等
多鍍層:鐵上鍍銅鍍鎳鍍銀,銅上鍍鎳鍍鈀鍍金等
合金鍍層:銅上鍍鋅鎳等

 

韓國(guó)先鋒XRF-2000鍍層測(cè)厚儀

 

檢測(cè)電子電鍍,化學(xué)鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鍍鋅,鍍銀,鍍鋅鎳等...

儀器功能

全自動(dòng)臺(tái)面

自動(dòng)雷射對(duì)焦
多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測(cè)樣品)
測(cè)量樣品高度不超過(guò)3cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測(cè)試范圍:0.03-35um

可測(cè)試單層,雙層,多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開(kāi)顯示各自厚度.
測(cè)量時(shí)間:10-30秒

鍍銀層X(jué)射線測(cè)厚儀:檢測(cè)范圍0.3-10um

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