X射線鍍層測厚儀應用領域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。

儀器鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款儀器，可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產品質量*的檢測儀器，廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。

射線在穿透一定厚度的物質時，其強度呈指數規律衰減，這和半衰期的公式相似，其公式為：
I=Tr*EXP(-UX)
Tr為初始射線強度，I為穿過物體后的射線強度，U為衰減系數，X為射線穿過的厚度。
對于不同的材料，衰減系數U是不同的，因此使用射線測量厚度時必須知道被測材料的U值。一般而言，材料密度越大，其U值就越大，比如鉛的密度在天然非放射性元素中的密度是zui大的，其相應的射線阻擋能力就越強，因此在核實驗中用作屏障，與之類似的就是鉛玻璃。
鍍層測厚儀采用電磁感應法測量鍍層厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電阻感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，這個距離即鍍層厚度。
測量方式：
X射線鍍層測厚儀兩種測量方式：
         連續測量方式（CONTINUE）
         單詞測量方式(SINGLE);
兩種工作方式：
         直接方式（DIRECT)
         成組方式（APPL）;
五個統計量：
        平均值（MEAN）
        zui大值（MAX）
        zui小值（MIN）
        測試次數（NO.）
        標準偏差（S.DEV）。