老化測試是一種功能測試系統（FCT），針對于芯片樣品測試中的功能驗證和協議測試，提供了一種較通用的人機界面和快捷方便的測試分析工具。

老化測試特性： 

Ø  腳本管理測試用例/底層協議，不需學習ARM/FPGA編程；

Ø  測試腳本可下載到主機，實現脫機自動測試并保存測試結果；

Ø  單板64個數字通道(可定制)，2個可調電源，1個可調時鐘；

Ø  電壓可編程，0V~5.5V，精度+/-10mV；；

Ø  測試時鐘可編程，高20MHz；

Ø  測試腳本可編程；

Ø  固件緩存可存儲10K條命令，支持循環命令，支持連續下載測試腳本；

Ø  固件含512條錯誤存儲空間；

Ø  可在線調試；

Ø  獨立模塊設計，可支持多個模塊組成系統并行測試；

Ø  可在線升級FPGA固件，以適用不同產品測試；

Ø  USB接口與PC機通信

主板功能：

本產品的主板主要包括ARM模塊和FPGA模塊，其中ARM負責與上位機通訊接受命令，FPGA負責與測試芯片通訊執行命令

以下主機示意圖

IO口速率

1.ARM發送數據速率為1MHZ

2.ARM接收數據速率為0.5MHZ

3.芯片輸入為1.28MHZ

4.IO輸入輸出速率可達20MHZ

測試算法

本產品針對芯片的測試可提供以下常用測試算法：

1.全片擦寫為0

2.全片擦寫為1

3.全片擦寫為0X55

4.全片擦寫為0XAA

5.正反對角線寫1測試