一、斜探頭入射點和探頭的前沿長度測試

1、將斜探頭置于CSK-1A試塊的B面上，使斜探頭在R100圓弧圓心上，前后移動探頭使圓弧回波達到較大值（控制在80%波幅）。此時斜探頭底面與試塊圓心的相交點即為探頭入射點。用鋼尺量出探頭距R100圓弧的距離，記錄下數據M

2、探頭入射點據探頭的前沿長度:   L=100-M.

二、折射角的測試

1、將70°斜探頭置于CSK-1A試塊的B面上，使斜探頭在R50圓弧面上，前后移動探頭使波高達到80%，用鋼尺量出探頭到試塊端面B面的距離，記下數據X。

2、根據折射角公式，得K1=（X。+L-35）/30  β1=arctanK1，

標準規定70°探頭誤差范圍：-3°≤△β≤0°為合格。

3、將37°斜探頭置于CSK-1A試塊A面上，前后移動探頭使R50的圓弧面的波高達到80%，用鋼尺量出探頭到試塊A面端面的距離，記錄下數據X2，

4、根據折射角公式，得：K2=（X2+L-35）/70   β2=arctanK2

標準規定37°斜探頭誤差范圍0°≤△β≤3°為合格。

三、水平線性的測試

1、將0°直探頭置于csk-1A試塊的厚度為25mm的探測面上，使厚度為25mm的十次底波顯示在示波屏的10格上，調整衰減器，使第十次回波到達50%。

2、計算偏差值：a=實測值-理論值

3、取較大偏差值的值代入公式，

通用/焊縫 ΔL=|Amax|×99%/b     

水平線性誤差≤2%為合格

母材 ΔL=|Amax|×99%/0.8b  

根據 TB/T2340-2012標準規定應ΔL≤2%，為合格。

四、垂直線性的測試

1、將0°直探頭置于cs-1-5試塊上探測Φ2平底孔，移動探頭使Φ2平底孔的波高達到99%。

2、待反射波穩定后，以每次2dB逐次衰減，并記下 每次衰減的波高實測值，計算出實測值與理論值的偏差值d。

3、取較大正偏差和較大負偏差，帶入公式，得Δd=【|d(+)|+|d(-)|】%

標準規定垂直線性誤差：1、母材探傷儀≤15%為合格。2、焊縫和通用探傷儀≤8%為合格。

五、動態范圍的測試

1、將儀器抑制置于“小”，使0°直探頭置于CS-1-5試塊上，使Φ2平底孔的回波達到99%，記下dB1.然后調整衰減器使Φ2平底孔的回波達到0，記下dB。,將后計算。dB。-dB1≥16dB為合格。

2、將儀器抑制置于“大”，使0°直探頭置于cs-1-5試塊上，使使Φ2平底孔的回波達到99%，記下dB1，調整衰減器使Φ2平底孔的回波達到0，記下dB.，將后計算dB.-dB1  

結果為2-6dB為合格。

六、盲區的測試

1、利用CSK-1A試塊上Φ50孔距兩側邊緣5mm和10mm的邊距測盲區大小，分別將探頭放在CSK-1A試塊A面上測5mm的盲區，在側面上測10mm盲區，分別看孔波與始波間是否有波谷且波谷在時基線上，若谷底不在時基線上則不能分辨孔波，一般先探10mm邊距，若能分辨則盲區小于10mm，可再探5mm邊距，若不能分辨則至少5mm是盲區。

七、分辨力的測定

1、將0°探頭放在csk-1A試塊槽口上，左右移動探頭并調節衰減器使85和91兩反射面波高相等并達到波高的99%，讀出波谷的高度h，代入公式計算：R=20lg（100/h)。標準規定 0°探頭分辨力R≥18dB為合格;

2、將斜探頭置于csk-1A試塊上，前后移動探頭并調節儀器找到Φ50和Φ44兩個臺階孔的較高波，再橫向移動探頭使Φ50和Φ44兩孔波峰等高并調節儀器使其達到99%波高，讀出波谷的高度h，代入公式計算：R=20lg（100/h)。標準規定 斜探頭分辨力R≥14dB為合格

3、若h=0 則取R>30dB.

八，鋼軌探傷儀靈敏度余量的測試

探傷儀的測量通道的靈敏度置較高狀態，抑制置較小，若儀器的電噪聲（不接探頭）電平較高。則降低增益，使電噪聲電平降至滿刻度的10%，設此時的衰減器讀數為S0

1、0°探頭置于WGT-3試塊110mm底面上，70°和37°探頭置于WGT-3試塊深65mm處Φ3mm橫孔作為基準。

2、保證耦合良好，且與試塊側面保持平行，前后移動探頭，調節儀器衰減器，使各基反射體波高達到80%，此時讀出衰減器的讀數S1，代入公式：S’=S1-S0

標準規定：0°、37°和70°靈敏度余量≥40dB。

九、鋼軌探傷儀缺陷檢出能力測試

在GTS-60或GTS-75試塊上，

將鋼軌探傷儀調整到實際鋼軌探傷狀態，在某一固定的探傷靈敏度和無誤報的情況下，應能檢出GTS-60試塊上除15°傾斜下裂以外的各種人工缺陷，并能正常報警。

十、零點調試（通用探傷儀，9008焊縫探傷儀）

1、將斜探頭置于CSK-1A試塊的B面上，前后移動探頭使R100圓弧回波達到80%，此時出波的聲程不在100上，調整細調使100圓弧的回波平移到100上，此時始波進入熒光屏的左側。目的是消除工件表面到晶片的誤差。

2、將直探頭置于csk-1A試塊上的91mm的平臺上，使91mm的出波達到80%，此時的出波聲程不在100上，調整細調使91mm的回波平移到100上，此時始波進入熒光屏的左側。目的是消除工件表面到晶片的誤差。

十一、信噪比的測試

0°探頭：在GTS-60或GTS-75試塊上探測底面回波，當波高達到80%時的靜態靈敏度余量大于或等于24dB，信噪比不小于16dB。（意思是：底波高達到80%時的在將增益提高16dB底波不出雜波為合格）;

37°探頭：在GTS-60或GTS-75試塊上探測螺孔和37傾角的3mm的上裂使兩波等高；并使波高達到80%時的靜態靈敏度余量大于或等于22dB，信噪比不小于8dB。（意思是：波高達到80%在將增益提高8dB傷波和孔波前不出雜波為合格）

70°探頭：在GTS-60或GTS-75試塊上，用二次波探測直徑4mm平底孔，并使波高達到80%時的靜態靈敏度余量大于或等于20dB，信噪比不小于10dB。; （意思是：直徑4mm平底孔，波高達到80%在將增益提高10dB直徑4mm平底孔前不出雜波為合格）

十二、斜探頭聲軸偏角測試

a）0°探頭：將0°探頭放在WGT-3試塊上探測深度為80mm深的橫孔，沿試塊縱向前后移動探頭，并注意保持探頭與試塊側面平行，使橫孔反射波較高，測量探頭中心到試塊端頭的距離L，則聲軸偏斜角Ø用下式計算：

Ø=tgˉ1（︱L-120︱/80）

b）斜探頭：將探頭置于CSK-1A號標準試塊25mm厚的表面上，37°探頭探測試塊側面的上菱角，70°探頭探測試塊側面的下菱角，前后移動和左右擺動探頭，使試塊菱角反射波較高，然后用量角器測量探頭中心線與試塊側面法線之間的夾角，此夾角即為聲軸偏斜角Ø。

十三、保護膜衰減值

用帶保護膜的70°探頭探測CSK-1A試塊B面R100的圓弧面，前后移動探頭并保持探頭與試塊側面平行，調節靈敏度，使R100圓弧面較高反射波達到80%，記下此時衰減器讀書W1，然后去掉保護膜，保護探測條件不變，重復上面的測試，使R100圓弧面較高反射波達到80%，記此時衰減器的度數W2.

則：W1和W2之差即為保護膜的衰減度數

W=W2-W1≦小于或等于8dB為合格。

十四、鋼軌探傷儀距離幅度特性測試

1、抑制置“較大”，被測試探頭須帶保護膜。

2、70°探頭測試：用WGT-3試塊，儀器探測深度不小于100mm，調節衰減器，依次探測深度為10mm、20mm、30mm、40mm、50mm、65mm、70mm的橫通孔，找到各孔的較高回波后在調節衰減器使波高達到80%，并記下相應的橫通孔的衰減器讀數，根據讀數的dB值可繪制距離幅度特性曲線，測試點不少于6個點。根據讀數得dB值可繪制距離幅度特性曲線。

3、37°探頭測試：用WGT-3試塊校驗時，儀器探測深度不小于200mm，調節衰減器，依據探測 深度為20mm、40mm、65mm、80mm、100mm、120mm、150mm的橫通孔，找到各孔的坐高波后使波高達到80%，并記下相應的孔的衰減器讀數，根據讀數得dB值可繪制距離幅度特性曲線。

4、0°探頭測試：用階梯試塊測試，儀器探測深度不小于200mm，調節衰減器，依次探測深度為20mm、30mm、40mm、50mm、60mm、80mm、100mm、150mm的大平底面，使各底面回波達到80%，并記下衰減器的讀數，根據衰減器讀數可繪制距離幅度特性曲線。

根據標準：TB/T2340-2012

橫波探頭探測同孔徑、不同聲程的橫通孔；0°探頭探測不同聲程的大平底，其反射波高的差值ΔW應滿足以下要求：

1、0°探頭：在深度20mm到距離幅度特性曲線較高點范圍內，ΔW小于或等于12dB，在距離幅度特性曲線較高點到深度150mm范圍內，ΔW小于或等于8dB.

2、37°探頭：在深度20mm到距離幅度特性曲線較高點范圍內，ΔW小于或等于12dB，在距離幅度特性曲線較高點到深度150mm范圍內，ΔW小于或等于8dB.

3、70°探頭：在相當于探頭深度10-70mm范圍內，ΔW小于或等于12dB。

十五、楔內回波幅度△S

0°探頭探測階梯試塊上反射幅度較高的波（即距離特性曲線幅度較高點所對應的或與其較接近的底面反射波）。斜探頭則探測WGT-3試塊上反射幅度較高的φ3mm橫通孔反射波，調節衰減器，使上述反射波的較高幅度至滿刻度的80%，記下此時衰減器的讀書Sw。將探頭置于空氣中，擦去表面油層，調節衰減器，使其靜噪回波幅度達到滿刻度的80%，設此時衰減器的讀數Ss。則探頭的楔內回波幅度△S為Ss-Sw。

0°探頭：ΔS≦-26dB

37°探頭：ΔS≦-30dB

70°探頭：ΔS≦-32dB

十六，阻塞范圍的測量

測量通道連接一縱波直探頭并置于階梯試塊50mm厚度處，耦合良好，調節儀器靈敏度，使該處底波為滿幅度的80％（相對測量通道的基線），然后將儀器靈敏度提高2dB其他旋鈕調節器不變，探測階梯試塊上20mm處底面，使耦合良好，若此處20mm處底波高于80％（注意消除距離補償的影響）則該通道阻塞范圍大于20mm。標準規定阻塞范圍不大于20mm。

十七、聲束寬度

標準規定：

0°探頭：掃查WGT-3試塊上80mm深直徑3mm橫孔時N大于或等于25mm。

37°探頭：掃查WGT-3試塊上65mm深直徑3mm橫孔時N大于或等于15mm。

70°探頭：掃查WGT-3試塊上65mm深直徑3mm橫孔時N大于或等于60mm。

測試方法：N的測量方法為落波刻度減起波刻度。