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ESDD試驗(yàn)桌對(duì)輻射干擾測(cè)量的影響

2019年02月25日 11:12深圳市辰儀科技有限公司點(diǎn)擊量:395

隨著各國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)的推廣和實(shí)施,人們?cè)絹?lái)越重視產(chǎn)品的電磁兼容性問(wèn)題,各大電子設(shè)備制造商也越來(lái)越注重產(chǎn)品的電磁兼容性測(cè)試,特別是電磁輻射干擾是否達(dá)到相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。在輻射干擾測(cè)試中,場(chǎng)地對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響非常明顯。在不同的測(cè)試場(chǎng)地,相同的儀器儀表會(huì)得到不同的測(cè)量結(jié)果,所以各個(gè)暗室的測(cè)試數(shù)據(jù)存在著差異。EN55022:2010是歐洲旨在對(duì)適用范圍內(nèi)的信息技術(shù)設(shè)備無(wú)線電干擾電平給出統(tǒng)一要求的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了干擾限值、測(cè)量方法、運(yùn)行條件和結(jié)果的處理要求。EN 55022:2010 輻射干擾試驗(yàn)中,臺(tái)式設(shè)備要求放置在非金屬的桌子上。標(biāo)準(zhǔn)中只提到桌面的大小通常為1.5m×1.0m,而對(duì)試驗(yàn)桌的材質(zhì)沒(méi)有明確規(guī)定。由于不同材料制作的試驗(yàn)桌介電常數(shù)不同,導(dǎo)致輻射干擾測(cè)試結(jié)果不同。

1 試驗(yàn)桌對(duì)場(chǎng)地性能的影響
EN 55022:2010 規(guī)定,輻射干擾試驗(yàn)要在開(kāi)闊試驗(yàn)場(chǎng)地進(jìn)行。開(kāi)闊試驗(yàn)場(chǎng)地應(yīng)平坦、無(wú)架空電力線、附近無(wú)反射物,場(chǎng)地足夠大,以便能在規(guī)定距離處放置天線,并使天線、受測(cè)設(shè)備和反射物體之間有足夠的間隔。但是隨著社會(huì)的發(fā)展,要尋找一塊符合要求的理想場(chǎng)地十分困難,所以電波暗室作為開(kāi)闊試驗(yàn)場(chǎng)的可替換場(chǎng)地被廣泛應(yīng)用。標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定,歸一化場(chǎng)地衰減(簡(jiǎn)稱NSA)是證明電波暗室是否能獲得有效結(jié)果的關(guān)鍵指標(biāo)。電波暗室是為模擬開(kāi)闊試驗(yàn)場(chǎng)地而建造的,電波暗室的歸一化場(chǎng)地衰減應(yīng)該與開(kāi)闊場(chǎng)地的差值小于4dB,以證明兩者的相似程度。
采用歸一化場(chǎng)地衰減試驗(yàn)方法驗(yàn)證試驗(yàn)桌對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響

2 試驗(yàn)桌對(duì)輻射干擾試驗(yàn)測(cè)量結(jié)果的影響分析
現(xiàn)將同一信號(hào)源分別放置在泡沫桌和木桌上,接收天線在距離信號(hào)源 10 m 處分別測(cè)量輻射干擾。

在頻率范圍 700~900 MHz 輻射干擾試驗(yàn)結(jié)果存在較大差異,其中在 800 MHz 處差異達(dá)到了 5.3 dB,而在 GB/T 6113.402-2006《無(wú)線電干擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備和測(cè)量方法規(guī)范第 4-2 部分:不確定度、統(tǒng)計(jì)學(xué)和限值建模測(cè)量設(shè)備和設(shè)施的不確定度》中提到,輻射干擾測(cè)量的不確定度大允許值為 5.2 dB。可見(jiàn)不同材質(zhì)試驗(yàn)桌造成的輻射干擾差異超出了標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的不確定度。
3 結(jié)語(yǔ)
不難看出,不同材質(zhì)的試驗(yàn)桌產(chǎn)生大差異的頻率相同,均在 700~900 MHz 之間。
因泡沫的介電常數(shù)接近空氣,比木頭小,所以暗室使用泡沫桌時(shí)測(cè)得的場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)與無(wú)測(cè)試桌相似;而當(dāng)暗室使用木桌時(shí),測(cè)得的場(chǎng)地衰減數(shù)據(jù)與無(wú)測(cè)試桌時(shí)的數(shù)據(jù)存在較大差異。因木桌較大的介電常數(shù)使木桌的暗室場(chǎng)地衰減 AN 偏大, 在AFT、AFR、ΔAFTOT 不變的情況下接收機(jī)測(cè)得的大測(cè)量電平值 VR 將減小。
所以,當(dāng)電波暗室使用木桌或其他較大介電常數(shù)材質(zhì)制作的試驗(yàn)桌等輔助設(shè)施時(shí),會(huì)使場(chǎng)地衰減AN 增大而導(dǎo)致接收機(jī)測(cè)得的電場(chǎng)強(qiáng)度減小,使測(cè)試結(jié)果造成差異。試驗(yàn)桌等輔助設(shè)備是試驗(yàn)場(chǎng)地有效性中不可分割的一部分,因此建議,在選擇暗室輔助設(shè)施時(shí)選擇介電常數(shù)小的材質(zhì),并進(jìn)行場(chǎng)地衰減的測(cè)量比較,以保障各暗室測(cè)量結(jié)果的一致性。

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