絕緣材料高頻介質(zhì)損耗測試裝置工作頻率范圍是1kHz～70MHz,它是根據(jù)串聯(lián)諧振原理，測試固態(tài)絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角（tanδ）和介電常數(shù)（ε），高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等.
本介質(zhì)損耗裝置中測試夾具是由測微平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)變化通過公式計(jì)算得到。同樣，由平板電容器的刻度讀數(shù)變化，通過公式計(jì)算得到介電常數(shù)。

   介電常數(shù)測試儀 介質(zhì)損耗測試儀   介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀  介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試裝置

                         
◎ 本公司創(chuàng)新的自動(dòng)Q值讀取技術(shù)，使測Q分辨率至0.1Q 。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～70MHz,測試信號(hào)。
◎ 低至20nH殘余電感，保證高頻時(shí)直讀Q值的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。
◎ 獨(dú)立1kHz～70MHz信號(hào)源輸出口，所以本機(jī)又是一臺(tái)70MHz的合成信號(hào)源，頻率準(zhǔn)確度±50ppm，穩(wěn)定度±10ppm。

◎ 介質(zhì)損耗裝置符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求

  SB916介質(zhì)損耗測試裝置與2851D、2853D 介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀及電感器配用，能對絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值和介電常數(shù)的測試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

2.1 平板電容器：

2.1.1 極片尺寸：

      SB916-38：Φ38mm， SB916-50：Φ50mm

2.1.2 極片間距可調(diào)范圍和分辨率：

      ≥10mm， ±0.005mm

2.2 夾具插頭間距：

    25mm±1mm

2.3 夾具損耗角正切值

    ≤2.5×10-4

 工作原理

   本測試裝置是由測微平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)變化，將測試數(shù)據(jù)輸入電腦，通過公式計(jì)算得到。同樣，由平板電容器的刻度讀數(shù)變化，通過公式計(jì)算得到介電常數(shù)。

    SB916D 介質(zhì)損耗測試裝置是由測微平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)變化,將測試數(shù)據(jù)輸入電腦，通過公式計(jì)算得到。同樣，由平板電容器的刻度讀數(shù)變化，通過公式計(jì)算得到介電常數(shù)。

產(chǎn)品工作特征

1.1 平板電容器：
1.1.1 極片尺寸：
  SB916D-38：Φ38mm.
  SB916D-50：Φ50mm.
1.1.2 極片間距可調(diào)范圍和分辨率：
  ≥8mm， ±0.002mm
1.2 夾具插頭間距：
  25mm±1mm
1.3夾具損耗角正切值
  ≤2.5×10-4