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產(chǎn)品型號(hào)
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所 在 地東莞市
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更新時(shí)間：2024-02-18 14:55:44瀏覽次數(shù)：149次
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手機(jī)充電器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)適用于AC/DC或DC/DC之手機(jī)充電器的特性測(cè)試，量身訂做并優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試項(xiàng)目，測(cè)試效能佳，符合大量生產(chǎn)測(cè)試要求
手機(jī)充電器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)適用于AC/DC或DC/DC之手機(jī)充電器的特性測(cè)試，量身訂做并優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試項(xiàng)目，測(cè)試效能佳，符合大量生產(chǎn)測(cè)試要求。
手機(jī)充電器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是在生產(chǎn)線測(cè)試的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，可以一次性測(cè)試多顆產(chǎn)品，測(cè)試效率高，大大提高生產(chǎn)線的測(cè)試產(chǎn)能。
手機(jī)充電器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)Top-Smart 2000系列的特點(diǎn)：
開放
? 開放式軟件架構(gòu)，提供給使用者一種富有彈性,功能強(qiáng)大,具有經(jīng)濟(jì)效益的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng);
? 可擴(kuò)展硬件與增加新測(cè)試項(xiàng)目;
? 支持條形碼預(yù)掃描功能，并且支持邊測(cè)試邊掃條形碼功能，提升整體測(cè)試速度;
? 支持模塊化電子負(fù)載(例如:TDL-6030GD等)及單路電子負(fù)載(例如:TDL-6030C等);
通用
? 支持各種電源(例如:工業(yè)電源、PC電源、充電器、適配器等)的測(cè)試;
? 符合能源之星(ENERGY STAR)及IEC 62301測(cè)量要求;
? 支持制造信息系統(tǒng) (ShopFloor)接口;
? 支持CV.CC.CR.CW模式下的各種電源參數(shù)測(cè)試;
? 優(yōu)化顯示模式，硬件配置可任意組合;
專業(yè)
? 支持工業(yè)電源的完整測(cè)試;
? 高精準(zhǔn)度的時(shí)序測(cè)試;
? 測(cè)試效率高，符合大量生產(chǎn)要求;
? 針對(duì)電源特性可優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試項(xiàng)目,簡(jiǎn)單易學(xué);
高速
? 各種電源測(cè)試的速度比常規(guī)測(cè)試系統(tǒng)要提高一倍以上;
? 測(cè)試命令可編輯幫助改善測(cè)試速度;
? 測(cè)試時(shí)進(jìn)行并行的條形碼掃描(Bar Code Reader)，極大提高測(cè)試速度;
| 綜合測(cè)試項(xiàng)目 | Test items | 綜合測(cè)試項(xiàng)目 | Comprehensive Test items | |
| 1、平均效率測(cè)試 | CEC test | 28、短路測(cè)試 | Short circuit test | |
| 2、定電壓模式的電流測(cè)量 | DC Current under C.V.Mode | 29、短路電流測(cè)試 | Short circuit current | |
| 3、峰對(duì)峰值噪聲 | Peak-Peak noise | 30、過(guò)電壓保護(hù) | OV protection | |
| 4、反應(yīng)時(shí)間測(cè)試 | Serial reaction time test | 31、低電壓保護(hù) | UV protection | |
| 5、瞬態(tài)反應(yīng)時(shí)間 | Transient response time | 32、超載保護(hù) | OL protection | |
| 6、瞬態(tài)電壓 | Transient spike | 33、過(guò)功率保護(hù) | OP protection | |
| 7、輸出電壓順序 | Tracking | 34、測(cè)試中調(diào)整測(cè)試 | In-test adjustment test | |
| 8、電壓穩(wěn)定度 | Voltage regulation | 35、輸入斷電測(cè)試 | AC cycle drop out | |
| 9、電流穩(wěn)定度 | Current regulation | 36、輸入電源失真模擬 | PLD simulation | |
| 10、開機(jī)時(shí)序 | Turn ON time | 37、直流輸出電流 | DC output current test | |
| 11、上升時(shí)間 | Rise time | 38、直流輸出電壓 | DC output voltage test | |
| 12、下降時(shí)間 | Fall time | 39、波形讀取測(cè)試 | Waveform read test | |
| 13、關(guān)機(jī)時(shí)間 | Hold-up time | 40、輸入沖擊電流測(cè)試 | Input impulse current test | |
| 14、浪涌電流測(cè)試 | Inrush current test | 41、輸入功率 | Input power | |
| 15、電源"好"信號(hào)（PG） | Power good signal | 42、繼電器控制 | Relay control | |
| 16、電源失效信號(hào)（PF） | Power fail signal | 43、條形碼讀取 | Bar code scan | |
| 17、開啟電源供應(yīng)器信號(hào) | P/S ON signal | 44、動(dòng)態(tài)測(cè)試 | Dynamic test | |
| 18、輸出上升波形 | Power up sequence | 45、定功率模式下的特性測(cè)量 | Specification under C.P.Mode | |
| 19、輸出下降波形 | Power off sequence | 46、輸入峰值電流測(cè)試 | Input Peak current | |
| 20、效率測(cè)試 | Effciency test | 47、額外擴(kuò)充量測(cè)測(cè)試 | Additional expansion measurement test | |
| 21、整體穩(wěn)定性測(cè)試 | Overall stability test | 48、輸入有效值電流 | Input RMS current | |
| 22、風(fēng)扇速度測(cè)試 | Fan Speed test | 49、TTL信號(hào)控制 | TTL signal control | |
| 23、輸入功率因數(shù) | Input power factor | 48、Lan 讀/寫 | LAN read/write | |
| 24、輸入電壓緩升/降測(cè)試 | Input voltage ramp | 51、RS485讀/寫 | RS485 read/write | |
| 25、輸入頻率緩升/降測(cè)試 | Input freq. ramp | 52、USB讀/寫 | USB read/write | |
| 26、擴(kuò)充量測(cè)測(cè)試 | Extend the measurement test | 53、232讀/寫 | 232 read/write | |
| 27、自動(dòng)調(diào)整測(cè)試 | Automatic test | 54、GPIB讀/寫 | GPIB read/write | |
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