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杭州晶飛科技有限公司
技術規格:
參 數 | 特 性 | 備 注 |
波長測試范圍 | 350nm~950nm | |
波長精度 | 0.4nm | |
探測器性能 | 濱松CCD | |
光學平臺 | CT-F/4-101 | |
色坐標精度 | (x,y)< 0.002 | |
色坐標穩定性 | <0.0005 | |
主波長測試精度 | <0.5nm | |
主波長穩定性 | <0.2nm | |
溫漂特性 | 色坐標變化小于 0.001 ; 波長變化小于0.5nm | |
線性度 | 色坐標變化小于 0.0003; 波長變化小于0.2nm | |
測試速度 | 積分時間+2ms | |
積分時間 (光譜曝光時間) | 0.4ms-500ms | |
靈敏度 | 400nm處 130個光子 | |
動態比 | 1000:1 | |
接口及供電 | USB 2.0/480M;USB供電 |
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