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深圳市茂迪機電設備有限公司
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CS系列分光輻射度計是應用HAMAMATSU的TE-cooled背照式制冷CCD探測器，二是對稱式低雜散光光路設計。相對于一般的高精度快 速光譜儀，具有高靈敏度、低雜散光、寬動態范圍、高重復性穩定性等優 點。適用于公司科研、國 家地方光電實驗室以及專業檢測機構等。
采用HAMAMATSU科研級高靈敏度陣列探測器，背照式CCD傳感器，具有內部TE致冷、BINNING等優 良特性。
多種型號選擇滿足你不同的應用需求：
工業級采用CS-1000光譜儀，該系統價格經濟，通過一系列可以互換的光測量附件即可輕松實現定制化，可溯源的光譜標準燈可以在380-780納米的范圍內方便的進行內部系統校準和驗證工作。
實驗級采用CS-4000光譜儀，具有強大的電子系統:帶有自動清零功能的16位A/D轉換器(增強的電子暗電流校正);采用EEPROM存儲校正系數,方便操作;電子快門可使積分時間zui短達到3.8毫秒--有 效地避免探測器飽和.而且CS-4000的信噪比可以達到300:1,光學分辨率(FWHM)為0.03-8.4nm(依賴于選用的光柵和入射狹縫)。
科研級采用CS-6500光譜儀，采用二維像素陣列探測器。像素列的疊加使得信噪比提升（1000：1），外圍電路將信號數字化添加使得探測器的信號處理速度與其他線性CCD相比更為快 速。TE制冷型探測器（zui低至-15 °C）具有低噪音、低暗信號的特點，低亮度級別測試、長積分時間從8毫秒到15分鐘（類似于照相機的快門速度）得以實現。
| 型號 | CS-1000 | CS-4000 | CS-6500 |
| 探測器范圍 | 350-800納米 | 350-1050納米 | 350-1100納米 |
| 傳感器 | CMOS傳感器 | 東芝TCD1304AP線性CCD陣列 | 熱電制冷CCD（薄型背照式） |
| 像素 | 1024像素 | 3648像素 | 1044×64像素 |
| 波長范圍 | 350-800納米 | 350-1050納米 | 350-1100納米 |
| 信噪比 | 150：1 | 300：1全光譜 | 1000:1全光譜 |
| A/D分辨率 | 14位 | 16位 | 16位 |
| 積分時間 | 3.8毫秒-10秒 | 3.8毫秒-10秒 | 8毫秒-15分鐘 |
| 雜散光 | <0.05% | <0.05% | <0.05% |
| 校正線性度 | >99.8% | >99.8% | >99.8% |
| 色溫范圍 | 1500-35000K | 1500-35000k | 1500-35000K |
| 色度精度 | ±0.0003（標準A光源） | ±0.0003(標準A光源) | ±0.0003(標準A光源) |
*亮度和色度的測量基于雷云光電條件下(使用標準LCD顯示屏(6500K, 9300K))
*規格參數與外觀有可能在沒有預先通知的情況下予以變更，恕不另行通知。
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