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北京華益瑞科技有限公司
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SS1-COM-R4 SunScan冠層分析系統是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統，提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數（LAI）。本系統不需要等待特殊的天氣條件進行使用，可以在大多數光照條件下進行測...
用途：SS1-COM-R4 SunScan冠層分析系統是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統，提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數（LAI）。本系統不需要等待特殊的天氣條件進行使用，可以在大多數光照條件下進行測量工作（但是*好是在接近中午的時候）。
SS1-COM-R4配置上包含BF5日照傳感器，用來參照測量直接和散射的入射光，提高測量精度；還含有一套無線電模塊，可以無線連接Sunscan傳感器和BF5日照傳感器，連接距離可達約200米（無障礙可達約250米），非常適合于測量較高的冠層時使用。
特點：
l 可測量冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）；
l 可直接顯示葉面積指數（LAI）；
l 陰天和晴天均可使用；
l 理想的表型的應用程序。
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