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南京科麟得科學儀器有限公司
基于 XDS NIR 技術的 XDS MultiVial 近紅外光譜分析儀對樣品瓶中固體的快速無損測量提供了新一代專用近紅外分析方案。 用戶可以采用 XDS MultiVial 近紅外光譜分析儀取代常規試驗,縮短產品的檢驗檢疫放行時間。無論在實驗室,還是現場離線分析都可以對樣品瓶中的樣品進行成分分析或材料鑒別檢測。該分析 儀支持無人值守模式下的光譜采集,使操作人員能夠騰出時間準備其它樣品、分析數據等。
儀器特性及優勢
•XDS NIR 技術確保使用簡單和定標的無縫轉移
•在無人值守的情況下,可自動反射分析一系列多位樣品瓶(樣品瓶大小可由用戶選擇)
•內置光斑可調功能,優化樣品的照度
•無需樣品制備,無需試劑,無任何廢棄物
•面向集中數據庫管理的網絡分析儀
•熱插拔模塊——幾分鐘內即可完成更換,不會影響性能
儀器簡介
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