大范圍掃描開爾文探針系統(tǒng)

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產品型號FPKPT-SKP5050

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更新時間：2022-09-20 16:39:23瀏覽次數：510次

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產品簡介

這款大范圍掃描開爾文探針系統(tǒng)幫助用戶可以訪問從50mm到350mm的樣品的二維和三維功函數圖

詳細介紹

這款大范圍掃描開爾文探針系統(tǒng)幫助用戶可以訪問從50mm到350mm的樣品的二維和三維功函數圖。掃描開爾文探針的功函數分辨率為1-3meV，探針直徑的空間分辨率為0.05mm，可對功函數、接觸電位差和伏特電位進行可靠、可重復的測量。
大范圍掃描開爾文探針系統(tǒng)可以選配高性能的光學/法拉第外殼屏蔽外殼，使其免受不必要的快速變化的環(huán)境條件、電磁干擾，并為我們的環(huán)境壓力光電發(fā)射光譜和表面光電壓附加模塊提供了的平臺。
大范圍掃描開爾文探針系統(tǒng)特色
用開爾文探針測量功函數
1-3mev的功函數分辨率
掃描范圍從50毫米到300毫米
掃描分辨率等于針尖直徑
自動高度調節(jié)

大范圍掃描開爾文探針系統(tǒng)應用
防腐，碳鋼，薄膜，太陽能電池，氧化鉬，氧化鋅納米線薄膜，量子點，空穴傳輸，納米顆粒，石墨烯，有機發(fā)光二極管。

大范圍掃描開爾文探針掃描結果

型號	SKP5050	ASKP100100	ASKP200250	ASKP350350
Tip material / diameter	Standard 2 mm gold tip (0.05 mm available on request)
Work function resolution	1 - 3 meV
Sample scan size	50 x 50 mm	100 x 100 mm	200 x 250 mm	350 x 350 mm
3D sample area	Square	Square	Square	Square and circular
Height control (auto)	25 mm	50 mm	50 mm	50 mm
Visualisation	3D map of surface potential
Optical system	Colour camera with zoom lens and monitor
Oscilloscope	Digital TFT oscilloscope for real time signal
Test sample	Gold and aluminium test sample
Faraday enclosure base	450 x 450 mm	300 x 300 mm	450 x 450 mm	450 x 600 mm
Control supplied	PC control with dedicated software for full control of all parameters
Detection system	Off-null with parasitic capacity rejection
Warranty	Twelve months