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深圳市方源儀器有限公司
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CMI900/950系列X射線熒光測厚儀AdvancedMaterialsAnalysisInstrumentCMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀
Advanced Materials Analysis Instrument
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統的中文版SmartLink FP應用軟件包，實現了對CMI900/950主機的全面自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定最多5層、15種元素。數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統計功能提供數據平均值、誤差分析、值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀
Advanced Materials Analysis Instrument
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：
CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：
CMI900/950主要技術規格如下：
| No. | 主要規格 | 規格描述 | |
| 1 | X射線激發系統 | 垂直上照式X射線光學系統 | |
| 空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 | |||
| 標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 | |||
| 功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選 X射線管功率可編程控制 | |||
| 裝備有安全防射線光閘 | |||
| 2 | 濾光片程控交換系統 | 根據靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統 | |
| 二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選 | |||
| 位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創探測器窗口 | |||
| 3 | 準直器程控交換系統 | 最多可同時裝配6種規格的準直器，程序交換控制 | |
| 多種規格尺寸準直器任選： －圓形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 | |||
| 4 | 測量斑點尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器) | |
| 在12.7mm聚焦距離時，測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器) | |||
| 5 | X射線探測系統 | 封氣正比計數器 | |
| 裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路 | |||
| 6 | 樣品室 | CMI900 | CMI950 |
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| －樣品室結構 | 開槽式樣品室 | 開閉式樣品室 |
| －樣品臺尺寸 | 610mmx 610mm | 300mmx 300mm | |
| －XY軸程控移動范圍 | 標準：152.4 x 177.8mm 任選：50.8mmx 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm | 300mmx 300mm | |
| －Z軸程控移動高度 | 43.18mm | XYZ程控時，152.4mm XY軸手動時，269.2mm | |
| －XYZ三軸控制方式 | 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 | ||
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| －樣品觀察系統 | 高分辨、彩色、實時CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。 | |
| 激光輔助光自動對焦功能 | |||
| 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 | |||
| 7 | 計算機系統配置 | IBM計算機：2.8G奔騰IV處理器，256M內存，1.44M軟驅，40G硬盤，CD-ROM，鼠標，鍵盤，15寸液晶，56K調制解調器。惠普或愛普生彩色噴墨打印機。 | |
| 8 | 分析應用軟件 | 操作系統：Windows2000中文平臺 中文分析軟件包：SmartLink FP軟件包 | |
| －測厚范圍 | 可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。請告訴牛津儀器您的具體應用，我們將列表可測定的厚度范圍 | ||
| －基本分析功能 | 無標樣檢量線測厚，可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數方法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。 | ||
| 樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) | |||
| 可檢測元素范圍：Ti22 – U92 | |||
| 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正 | |||
| 組成分析時，可同時測定15種元素 | |||
| 多達4個樣品的光譜同時顯示和比較 | |||
| 元素光譜定性分析 | |||
| －調整和校正功能 | 系統自動調整和校正功能：校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結果的影響，自動消除系統漂移 | ||
| 譜峰計數時，峰漂移自動校正功能 | |||
| 譜峰死時間自動校正功能 | |||
| 譜峰脈沖堆積自動剔除功能 | |||
| 標準樣品和實測樣品間，密度校正功能 | |||
| 譜峰重疊剝離和峰形擬合計算 | |||
| －測量自動化功能 (要求XY程控機構) | 鼠標激活測量模式：“Point and Shoot” | ||
| 多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式 | |||
| 測量位置預覽功能 | |||
| 激光對焦和自動對焦功能 | |||
| －樣品臺程控功能 (要求XY程控機構) | 設定測量點 | ||
| One or Two Datumn (reference) Points on each file | |||
| 測量位置預覽(圖表顯示) | |||
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| －統計計算功能 | 平均值、標準偏差、相對標準偏差、值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 | |
| 數據分組、X-bar/R圖表 | |||
| 直方圖 | |||
| 數據庫存儲功能 | |||
|
| |||
| －系統安全監測功能 | Z軸保護傳感器 | ||
| 樣品室門開閉傳感器 | |||
| 操作系統多級密碼操作系統：操作員、分析員、工程師 | |||
| －任選軟件 | 統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書 | ||
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液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量 | |||
| 材料鑒別和分類檢測 | |||
| 材料和合金元素分析 | |||
| 貴金屬檢測，如Au karat評價 | |||
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