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1MHz~600MHz阻抗分析儀

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參  考  價面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號IM7583

品       牌

廠商性質其他

所  在  地上海

聯系方式：殷小姐查看聯系方式

更新時間：2022-07-06 16:49:18瀏覽次數：203次

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經營模式：其他

商鋪產品：103條

所在地區：上海上海

聯系人：殷小姐

產品簡介

HIOKI 1MHz~600MHz阻抗分析儀IM7583,基本參數：測量頻率 1 MHz～600 MHz測量范圍 L： 0.0265 nH～0.795 mH C： 0.0531 pF～1.59 ?F (根據測量頻率而定)測量信號電平 -40.0 dBm～+1.0 dBm基本精度 Z：0.65% rdg. θ: 0.38°

詳細介紹

產品特征

HIOKI 1MHz~600MHz阻抗分析儀IM7583,基本參數：

測量頻率 1 MHz～600 MHz
測量范圍 L： 0.0265 nH～0.795 mH
              C： 0.0531 pF～1.59 ?F
              (根據測量頻率而定)
測量信號電平 -40.0 dBm～+1.0 dBm
基本精度 Z：0.65% rdg. θ: 0.38°

產品功能

HIOKI 1MHz~600MHz阻抗分析儀IM7583特點：

為了保證正確并可靠的測量，搭載了多種功能：

補償功能—為了測量的準確性，建議在測量前進行補償。

開路/短路/Load補償
進行從阻抗分析儀主機到標準面(測試頭端子或樣品連接端子任一)的
校正。

連接開路、短路、load3種補償治具，測量各自的補償數據并去除誤差因素

電氣長度補償
以數值輸入從標準面的測試樣品接觸面為止的電氣長度，補償相移導致的誤差。測試頭上安裝治具時，需要輸入治具的電氣長度。

開路/短路補償
去除從校正標準面到樣品的連接端子為止的誤差因素(治具或測試線等）


接觸檢查-檢查測量端子和被測元件的接觸狀態。


Hi-Z篩選功能 根據測量結果判定接觸狀態
開啟該功能后，當測得的阻抗值大于設定的標準值時，測量端子的接觸狀態會被判定為錯誤，并輸出錯誤提示。


DCR測量  確認測試前后的接觸狀態
適用于電感、磁珠、共模濾波器等的直流電阻值和低電感性元件的接觸檢查。

設置接觸電阻值的上下限并以此進行判定


波形判定功能 測量中的波形變動檢測
測量過程中，確認元件和端子是否處于接觸狀態。以讀取的有效值波形為標準，當有效值的變動超出預設范圍時，輸出錯誤提示。




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