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北京飛凱曼科技有限公司


橢偏儀

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參  考  價面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號SE-102

品       牌

廠商性質代理商

所  在  地北京市

聯系方式：趙查看聯系方式

更新時間：2017-06-25 11:21:31瀏覽次數：797次

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經營模式：代理商

商鋪產品：33條

所在地區：北京北京市

聯系人：趙 （經理）

產品簡介

北京飛凱曼公司提供光子晶體探測器型橢偏儀。這種光子晶體探測器型的是有日本Photonic Lattice公司*，并應用到的測試中。日本Photonic Lattice公司在光子晶體的研究和制造領域*世界，由此開發出的光子晶體探測器型具有測試速度快、測量準確、免維護、價格低廉等特點已經在光學薄膜、半導體薄膜、有機薄膜等領域有著廣泛的應用。該可快速準確測量薄膜的厚度和折射率

詳細介紹

北京飛凱曼公司提供光子晶體探測器型橢偏儀。這種光子晶體探測器型的橢偏儀是有日本Photonic Lattice公司*，并應用到的測試中。日本Photonic Lattice公司在光子晶體的研究和制造領域世界，由此開發出的光子晶體探測器型具有測試速度快、測量準確、免維護、價格低廉等特點已經在光學薄膜、半導體薄膜、有機薄膜等領域有著廣泛的應用。該可快速準確測量薄膜的厚度和折射率的分布。

相比傳統的光譜型，光子晶體探測器型避免了探測器的機械運動。使得測試速度更快、測試更加準確、成本更加低廉。

SE-101，SE-102型都是經濟小巧的桌面式，SE-101主要用于薄膜的單點測量,SE-102則可進行點、線和面的測量。該系列設備使用簡單，免維護，價格低廉，特別適合于實驗室和工藝線的在線膜厚檢測。

技術規格：

 

型號

SE-101

SE-102

重復性精度

0.1nm（厚度），0.001（折射率）

測量速度

0.05秒/點

光源

636nm半導體激光器

測量點尺寸

1mm2

點線測量：0.5mm2

面測量：0.1mm2

入射角

70度

樣品尺寸

4英寸

4英寸，1軸自動，2軸手動

儀器尺寸和重量

250x175x218.3mm/4Kg

300x235x218.3mm/9Kg

數據接口

RS-232C,千兆以太網

電源

AC100-240V（50/60Hz）

軟件

SE-View

 

詳細信息請咨詢我們。


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