窗體頂端
QNix4200窗體頂端
窗體頂端
QNix4200膜厚儀一體化/分體化設計，只需調零，無需校準，使用極其簡單。其中QNix4200為磁性測厚儀，可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層；QNix4500為磁性和渦流兩用測厚儀，不僅可以用來測量鋼鐵等磁性基體，還可以用來測量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層。這兩個型號操作簡單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。
QNix4200膜厚儀優點：
1.簡單快速測量
2.不需要校準
3.自動開關機
4.大量程FE:0-5000um NFE:0-3000um
5.雙用探頭，性價比高
6.霍爾傳感器讓測量更穩定
7.測量時聲音同步
8.紅寶石耐磨頭，壽命長
9.背光LED顯示，讀數更加清晰
10.自動識別測量基體
11.分體式探頭，滿足不同的測量環境
QNix4200膜厚儀技術參數：
(模式) | 磁性基體(Fe模式)/非磁性基體(NFe模式) |
測量范圍 | 0-3000um |
顯示精度 | 0.1um |
精度 | 0-50um:≤±1um |
50-1000um:≤±1.5%讀數 | |
1000-3000um≤±3%讀數 | |
zui小接觸面 | 10×10mm/QNix4500 |
zui小曲率半徑 | 凸面：3mm；凹面：25mm |
zui小基體厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm |
溫度補償范圍 | 0-60℃ |
顯示 | LCD液晶(帶背光) |
探頭 | 紅寶石固定式 |
電源 | 2×1.5V干電池 |
尺寸 | 100×60×27mm |
重量 | 110g |
窗體底端
