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偏光熔點儀 XPN-203E

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱上海長方光學儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2024/11/16 10:39:30
  • 訪問次數80
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上海長方光學儀器有限公司致力于*的精密光學制造技術和計算機圖象處理技術的研發,從事發展光學、精密機械、計算機相結合的(光、機、電一體化)光學儀器開發和銷售。公司已建立了優秀的技術、經營和管理人才隊伍,運轉高效順暢,具備了較強的市場開拓能力、光機電領域技術與產品的成套開發制造能力。企業嚴格參照ISO9001:2000質量保證體系標準管理整體運作。開發、制造、銷售、服務全過程質量穩定可靠。可根據不同客戶的需要,提供光學零件設計、計算機圖像處理軟件開發、產品選型等技術服務。公司主要產品:測量顯微鏡、讀數顯微鏡、工具顯微鏡、光學投影儀、測量投影儀、影像測量儀、生物顯微鏡、體視顯微鏡、金相顯微鏡、視頻顯微鏡、檢測顯微鏡、偏光顯微鏡偏光熔點測定儀、生物顯微鏡加熱臺、光切法顯微鏡、干涉顯微鏡、立式光學計、透鏡中心儀、中心偏測量儀、阿貝折射儀、金相拋光機、平行光管、數字式激光平面干涉儀、顯微硬度計、1'和15'的光學比較測角儀等各種光學儀器,以及計算機圖像處理軟件和顯微鏡測量軟件、光學儀器配件。 產品廣泛應用于農牧、輕工、機械、電子、冶金、醫療、化工等行業;衛生、教育、國防等部門及各大專院校 、科研單位。公司秉承"講誠信、求人才、抓管理、重技術"的經營理念,以"為顧客創造價值、為員工創造機會、為社會創造效益"為宗旨,致力于國家光電產業的發展,同時愿意與光學技術領域中的有相當專長的人士和機構進行各種形式的合作。
偏光熔點儀XPN-203E一、用途XPN-203系列偏光熔點測定儀是地質、礦產、冶金、石油化工、化纖、半導體工業以及藥品檢驗等部門和相關高等院校高分子等專業的專業實驗儀器
偏光熔點儀 XPN-203E 產品信息
偏光熔點儀 XPN-203E
一、用途
XPN-203 系列偏光熔點測定儀是地質、礦產、冶金、石油化工、化纖、半導體工業以及藥品檢驗等部門和相關高等院校高分子等專業的專業實驗儀器。偏光熔點測定儀可供廣大用戶作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察以及顯微攝影,來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測,有自動P、I、D調節,及模糊手動調節功能,偏光熔點測定儀通過LED顯示溫度值及設定溫度值,儀表顯示
偏光熱臺 偏光熔點測定儀
電腦型偏光熔點儀 XPN-203E 數碼偏光熔點儀 XPN-203Z
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準確、清晰、穩定,對溫度控制可設定
程序,設有“上、下”限自動報警裝置,并可隨時檢查設定的溫度數據,是新一代熔點測溫、控溫裝置。顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件。偏光顯微鏡熱臺具有可擴展性,可以接計算機和數碼相機,對圖片進行編輯、保存和打印。偏光熔點測定儀是一組具有較完備功能的新型產品。
二、系統簡介
偏光熔點測定儀系統是將精密的光學顯微鏡技術、的光電轉換技術、的計算機圖像處理技術地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以在顯示屏上很方便地觀察實時動態圖像,并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
三、技術參數:
1.目鏡:
類 別 放大倍數 視場(mm)
網格目鏡 10X φ18
十字目鏡 10X φ18
分劃目鏡 10X φ18

2.物鏡:
類 別 放大倍數 數值孔徑(NA) 工作距離(mm) 蓋玻片厚度(mm)
物 鏡 4X 0.10 7.80 -
10X 0.25 4.70 -
25X 0.40 1.75 0.17
40X 0.65 0.72 0.17
63X 0.85 0.18 0.17

3.放大倍數:40X-630X 系統放大倍數:40X-2600X。
4.聚光鏡數值孔徑:NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡,中心可調
5.起偏鏡:振動方向360°可調,帶鎖緊裝置,可移動光路
6.檢偏鏡:可移出光路,旋轉范圍90°內置勃氏鏡,中心、焦距可調
7.補償器:λ片(φ18mm,一級紅,光程差551nm) λ/4片(φ18mm, 光程差147.3nm)
石英楔子(12x28mm,Ⅰ-Ⅳ級)
8.調焦系統:帶限位和調節松緊裝置的同軸粗微調,格值為0.002mm
9.電光源:6V/20W鹵素燈(亮度可調)
四、熱臺:
1.顯微精密控溫儀
在 20X 物鏡下工作溫度可達到300 ℃ 、溫度運行程序全自動控制;溫度程序段由用戶自行設定,30段溫度編程,循環操作,能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度,及在該段內可維持時間,升溫速率可調、精度±0.3 ℃、記憶點讀數。
2.顯微加熱平臺
可以隨載物臺移動、工作區加熱面積大、透光區域可調、工作區溫度梯度低于± 0.1
起始溫度室溫
工作區加熱使用面積至少1X1cm
工作區溫度梯度不超過 ± 0.1oC
透光區域 2mm以上,可調
顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2
熱臺可以隨載物臺移動
熔點測定 溫度超過100度時,25X的物鏡工作距離太近,容易損壞鏡頭,請選用長工作距離的 20X、40X 物鏡
五、系統組成
電腦型偏光熔點儀(XPN-203E):1、偏光顯微鏡 2、熱臺 3.攝像器(CCD) 4.A/D(圖像采集) 5、計算機
數碼相機型偏光熔點儀(XPN-203Z):1、偏光顯微鏡 2、熱臺 3、數碼相機系統
數碼顯微成像系統 電腦顯微成像系統
六、選購件
1、高像素成像系統 2.偏光顯微鏡分析軟件
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