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小型臺式XRD-XRF聯(lián)用儀 BTX PROFILER單樣品系統(tǒng)

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面議

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱深圳市萊雷科技發(fā)展有限公司
品牌
型號小型臺式XR
所在地深圳市
廠商性質(zhì)其他
更新時間2024/11/10 15:58:46
訪問次數(shù)91

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深圳市萊雷科技發(fā)展有限公司（以下簡稱萊雷科技）成立于1998年，其隸屬香港智邦三個主體--分析儀器、自動化、物流供應(yīng)鏈之一，坐落于大灣區(qū)前海，是分析儀器SciAps、 InnovXsystem2006-2010、Olympus2010-2018、Perkin-Emer、Fluke、Datapaq，Thinky、G-tec,Quick戰(zhàn)略級伙伴。值得一提的是，萊雷科技2010-2018年期間是OLYMPUS INNOVX XRF在大代理機(jī)構(gòu)，同時也是A板上市企業(yè)QUICK的合作機(jī)構(gòu)。萊雷科技是進(jìn)入便攜無損分析的大陸機(jī)構(gòu)，多年來一直專注于材料分析的應(yīng)用與二次研發(fā)，在市場、技術(shù)、用戶、經(jīng)驗(yàn)、服務(wù)等方面不斷向服務(wù)和專業(yè)化技術(shù)貼近，成為國內(nèi)具有規(guī)模和歷史的XRF技術(shù)團(tuán)隊(duì)。截至2019年，萊雷科技已走過21年歷史，我們已為大中華區(qū)、中北亞地區(qū)上萬家用戶提供過優(yōu)質(zhì)、系統(tǒng)性的材料分析解決方案，累計用戶超過7000個，服務(wù)客戶超數(shù)十萬次。我們將繼續(xù)秉持初心，把萊雷科技的化服務(wù)和專業(yè)化技術(shù)推向更多有需要的客戶。

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產(chǎn)品簡介在線詢價

小型臺式XRD-XRF聯(lián)用儀 BTX PROFILER單樣品系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

X射線衍射技術(shù)/發(fā)展史

X射線衍射技術(shù)/集成技術(shù)

BTX PROFILER的XRD技術(shù)來自于美國宇航局NASA埃姆斯實(shí)驗(yàn)室，該技術(shù)曾被美國宇航局火星計劃"好奇號"、"漫游者"使用過；XRF技術(shù)則是奧林巴斯ED-XRF技術(shù)的結(jié)晶，兩大技術(shù)結(jié)合，可以提供材料的元素、成分、結(jié)構(gòu)等全方面的信息，可減少實(shí)驗(yàn)成本，節(jié)約時間和空間。BTX PROFILER 采用兩套獨(dú)立的X射線源和探測器，以保證快速獲取全面優(yōu)質(zhì)的數(shù)據(jù)信息，XRD部分使用CCD二維面探測

器，該探測器可以獲取整個德拜環(huán)的衍射數(shù)據(jù)信息，XRF部分則采用SDD探測器，實(shí)現(xiàn)更低的檢測下限和更高的靈敏度。

技術(shù)規(guī)格

XRD和XRF組合技術(shù)

①XRD微聚焦X射線管

②XRD X射線束

③XRD準(zhǔn)直器 ④XRD樣品

⑤CCD探測器 ⑥XRF X射線管

⑦濾光輪 ⑧XRF X射線束

⑨XRF樣品 ⑩ XRF SDD探測器

用于化合物分析的二維XRD

XRD采用透射衍射幾何技術(shù)，使用能量敏、

位敏的二維CCD面探測器，實(shí)現(xiàn)了儀器的小

型化和更為緊湊的結(jié)構(gòu)

1、探測器收集整個德拜環(huán)的信息而非傳統(tǒng)

臺式機(jī)只能收集德拜環(huán)一個截面的信息，增大

了數(shù)據(jù)

2、檢測快速，全譜顯示而非步進(jìn)掃描，普通樣

品分鐘即可

無測角儀的XRD

使用樣品振動系統(tǒng)(樣品在檢測過程中以6000hz的頻率隨機(jī)振動)，替代傳統(tǒng)臺式XRD測角儀可以實(shí)現(xiàn)以下功能：

1、樣品制備簡單：樣品無需制片、壓片、刮片，只需得到<150um的顆粒即可；2、實(shí)現(xiàn)樣品顆粒的角度的檢測；3、消除檢測過程中晶體的擇優(yōu)取向；4、增加了樣品檢測量

用于全元素分析的能量色散型（ED）XRF

1、大功率射線管，配以超大面積SDD探測器；2、真正實(shí)現(xiàn)了在現(xiàn)場進(jìn)行快速，準(zhǔn)確的檢測；3、直接顯示元素的ppm含量與百分比含量；4、全元素分析，從鎂（Mg）到鈾（U）之間的所有元素； 5、7個濾光片設(shè)置，可根據(jù)元素自動選擇優(yōu)濾光片；6、可選配氦氣裝置進(jìn)一步提高輕質(zhì)元素的檢測效果；

XRD-XRF聯(lián)用儀/軟件

XRD

XRD使用xpowder分析軟件，該軟件可提供包括背景扣除、平滑處理、Ka2峰剝離、多譜圖疊加等功能，可以進(jìn)行物相定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析、結(jié)構(gòu)精修處理、結(jié)晶度分析、晶粒度分析等功能。

物相定量分析可以使用RIR值及里特維德全譜擬合，實(shí)現(xiàn)復(fù)雜混合物的準(zhǔn)確定量，尤其適合于礦物的全巖成分分析。

XRF

XRF數(shù)據(jù)處理軟件提供有關(guān)材料的定性、定量信息，其中包含光譜視圖和元素峰值辨別。定量分析使用基本參數(shù)（FP）法。在實(shí)際應(yīng)用中，可以使用一系列用戶的認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)對這些基本參數(shù)校準(zhǔn)進(jìn)行優(yōu)化（經(jīng)驗(yàn)分析）。使用離線“方法建立器”軟件包可以優(yōu)化校準(zhǔn)曲線，自行定制分析程序，并將分析程序下載到分析儀器。

軟件還提供了其它一些用于分析的性能，如：查看元素范圍、

可選峰值識別、顯示含量結(jié)果，以及樣件組的頻譜覆蓋。

XRD-XRF聯(lián)用儀/應(yīng)用領(lǐng)域

BTX PROFILER集成二維XRD技術(shù)及ED-XRF技術(shù)，可對材料實(shí)現(xiàn)全面的分析檢測，提供材料的元素組成、化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)等方面的信息。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)礦產(chǎn)、石油地質(zhì)錄井、地球化學(xué)、制藥、催化劑、法醫(yī)、材料等工業(yè)及科研領(lǐng)域。

礦物鑒定 XRD錄井鉆井催化劑研發(fā) 選礦效率

礦石品位能源勘探腐蝕物鑒定與防腐

石油地質(zhì) 藥物多晶型材料成分及結(jié)構(gòu)

XRF錄井鉆井真假藥識別教育與科研

XRD-XRF聯(lián)用儀/配置

1、儀器標(biāo)配一個樣品系統(tǒng)，檢測時只能對單個樣品進(jìn)行檢測分析。

2、可選配氦氣凈化裝置，有利于Mg、Al、Si、P、S等輕元素的檢測。