HORIBA X熒光光譜儀
沒有什么技術可以如此簡單的獲得如此多的信息。僅僅需要點擊感興趣區域，就可以開始測量。并可以獲得光學圖像和元素面分布圖的*結合的測量結果。
單點分析以及自動球面成像 ，雙真空管模式，光斑尺寸自1.2 mm 到 10 µm.
單點分析以及自動成像，正常大氣壓力下分析，光斑尺寸自1.2 mm 到 10 µm.
新一代的HORIBA X熒光光譜儀 開創了科學分析的新時代。它將光學圖像與元素分析*地結合，為科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。
SDD檢測器保證了高速、高精度元素面掃描；高能量分辨率，高計數率的測量，且無需液氮。
雙真空式設計確保用戶可以在幾秒鐘內完成樣品室內部氛圍的切換（大氣或真空）。即使測量含水樣品、生物樣品時也可以保證測量
所有元素的高靈敏度。
*的硬件設計確保了XGT-7200操作的靈活性和廣泛的應用范圍。通過軟件控制x射線導管在10 µm和1.2 mm間切換，以保證獲得
測量條件，無論是微觀到宏觀。
與x射線導管同軸的CCD相機，可以迅速、精確地定位感興趣區域。
有著諸多創新的XGT-7200在眾多領域有著廣泛的應用：電子電器、發動機磨損分析、法醫科學、地質礦物、醫藥、博物館、冶金、生物等。 XGT-7200的靈活設計，保證用戶通過簡易的操作即可獲得高質量的分析結果，無論是分析大區域，還是對微區細節分析，或是同時采集X射線熒光圖像和X射線透過像。
主要特點：
1、 技術：可將X射線全反射聚焦的聚光導管。
2、 XGT技術創造了世界上小的分析用X射線光斑（10µm）
豐富強大的分析功能
1、 將光學圖像與元素分析*結合，輕松實現樣品中元素的分布分析。
2、 提供革命性的10µm直徑X射線束，實現對樣品高分辨率的元素分析。
3、 利用X射線的穿透性可以無損地對樣品內部結構進行觀察。
4、 提供多種樣品圖譜采集方式，單點分析，多點分析，X射線透過像，高光譜元素面分布圖像
5、 完備的數據分析包提供定性分析，定量分析，多層厚度分析，譜圖分析，譜圖匹配，譜圖比較，RGB圖像合成等豐富的功能。
6、 雙真空模式，局部真空模式用于粉末樣品，含水樣品或生物樣品進行分析，全真空模式可以進一步提供輕元素的分析精度。
