液體電壓擊穿試驗(yàn)儀液體電壓擊穿試驗(yàn)儀
1本試驗(yàn)方法在A(yíng)STM委員會(huì)D09(電子和電氣絕緣材料)的管轄范圍內(nèi),D09.12分會(huì)(電學(xué)試驗(yàn))負(fù)直接責(zé)任。
本版本于2013年4月1日被批準(zhǔn),2013年4月出版。首版于1922年被批準(zhǔn)。上一版為D149-09于2009年被批準(zhǔn)。DOI:10.1520/D0149-09R13。
2Bartnikas, R., 第3章, “高電壓測(cè)量,” 固體絕緣材料的電學(xué)性能,測(cè)量技術(shù), 第IIB卷, 工程電介質(zhì), R. Bartnikas, Editor, ASTM STP 926, ASTM, Philadelphia, 1987。
3Nelson, J. K., 第5章, “固體的電介質(zhì)擊穿,” 固體絕緣材料的電學(xué)性能: 分子結(jié)構(gòu)和電學(xué)行為, 第IIA??, 工程電介質(zhì), R. Bartnikas和R. M. Eichorn,Editors, ASTM STP 783, ASTM, Philadelphia, 1983。
4對(duì)于參照的ASTM標(biāo)準(zhǔn),
ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法
耐電壓擊穿試驗(yàn)儀3. 術(shù)語(yǔ)
3.1定義:
3.1.1介質(zhì)擊穿電壓(電擊穿電壓),名詞:使得位于兩個(gè)電極之間的絕緣材料失去介電性能的電勢(shì)差(參見(jiàn)附錄X1)。
3.1.1.1討論一介質(zhì)擊穿電壓有時(shí)也簡(jiǎn)稱(chēng)“擊穿電壓”。
3.1.2介電失效(在測(cè)試中),名詞:指在測(cè)試限制的電場(chǎng)條件下,能夠持久由介電電導(dǎo)率上升所證明的情況。
3.1.3絕緣強(qiáng)度,名詞:指在測(cè)試的特定條件下,使得絕緣材料介電失效時(shí)的電壓梯度。
3.1.4電氣強(qiáng)度,名詞:參見(jiàn)絕緣強(qiáng)度。
3.1.4.1討論一在國(guó)際上,“電氣強(qiáng)度”更常用些。
3.1.5閃絡(luò),名詞:指發(fā)生在絕緣體或絕緣體周?chē)橘|(zhì)的破壞性電火花,不一定對(duì)絕緣體產(chǎn)生永損害。
3.1.6其他與固體絕緣體材料相關(guān)術(shù)語(yǔ)的定義,參見(jiàn)術(shù)語(yǔ)D1711。
耐電壓擊穿試驗(yàn)儀4. 測(cè)試方法概要
4.1在工業(yè)電頻率條件下(如無(wú)特殊說(shuō)明,則為60Hz),對(duì)測(cè)試樣品采用不同的電壓。以使用電壓所描述三種方法中的一種,將電壓從0或從低于擊穿電壓的恰當(dāng)電壓開(kāi)始,升高到測(cè)試樣品發(fā)生介電失效為止。
4.2大多數(shù)情況下,在測(cè)試樣品的兩邊安裝簡(jiǎn)單的測(cè)試電極,以進(jìn)行電壓測(cè)試。測(cè)試樣品可以是模制的,也可以是鑄造的,或是從扁平薄板或厚板上切割下來(lái)的。也可以使用其他的電極或樣品結(jié)構(gòu)以適應(yīng)樣品材料的幾何形狀,或是模擬正在被評(píng)估材料的特定用途。
ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法
耐電壓擊穿試驗(yàn)儀5. 意義和使用
5.1電絕緣的絕緣強(qiáng)度是決定材料可以在何種條件下使用的關(guān)鍵性能。在很多情況下,材料的絕緣強(qiáng)度是所使用裝置設(shè)計(jì)的決定性因素。
5.2本方法中介紹的測(cè)試,將用于提供部分所需的信息,以判斷材料在一定應(yīng)用條件下的適用性;當(dāng)然也能用于檢測(cè)由于流程的變化,老化的程度,或是其他制造或環(huán)境條件而造成的變化或是與正常特征的偏差。該測(cè)試方法可以有效地應(yīng)用于流程控制,驗(yàn)證或研究測(cè)試。