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SPECTRO XEPOS 偏振X射線熒光光譜儀

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  • 公司名稱上海拓普思科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2024/4/25 10:20:35
  • 訪問次數151
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上海拓普思科技有限公司(The TOPS Lab System)是以材料檢測方案解決為宗旨,集材料檢測儀器的銷售、實驗室建設和技術咨詢服務為一體的實驗室檢測專業服務機構。TOPS提供專業的材料檢測實驗室建設和技術咨詢服務,在汽車、航天航空、電子電器、電力、鋼鐵、機械、能源、交通等行業,在金屬材料、塑膠材料、涂裝、汽車零部件、汽車曲軸、新能源電池、PCB板、半導體、石油管道、壓力容器、電站管道、緊固件、鑄造件、熱處理件、軸承等生產和檢測領域中提供專業的實驗室設計及建設服務、實驗室質量管理咨詢服務、國家實驗室認可咨詢服務、實驗室管理系統的建立和改進服務以及材料檢測技術培訓服務等,并為廣大實驗室工作者提供一個良好的管理和技術溝通平臺。TOPS是專業的材料檢測儀器代理商,是德國Spectro光譜儀、美國BUEHLER金相設備、美國WILSON硬度計、瑞士ERNST硬度計、美國G&R硬度計、美國INSTRON試驗機、德國Leica材料顯微鏡、德國ELTRA氣體分析儀、德國SPECTRUMA輝光光譜儀、美國Q-LAB耐候老化設備、美國TA熱分析儀等眾多品牌產品的代理商,并是其中多數品牌的區域或行業總代理。TOPS也是專業的材料檢測儀器集成商,有著超過二十年的專業材料檢測技術背境,可為金屬材料和高分子材料在化學性能、物理性能和耐候老化性能檢測上提供全套的檢測儀器和解決方案。公司還可以提相關配套檢測儀器和試樣加工設備,為客戶提供一站式的專業便捷服務。公司一直以專業的技術服務和優質的售后服務為理念,并贏得了廣大客戶的信賴。TOPS期待與您共創實驗室美好明天!
SPECTRO XEPOS 偏振X射線熒光光譜儀是德國斯派克分析儀器公司推出的新一代儀器。擴展的偏振光學系統*使用50W低能量的X射線管作為輻射源,用于Na-U元素的同時分析。從X射線管中發出的原始X射線通過高通量偏振光學系統進行轉換,得到的*偏振且部分單色的X射線可以高靈敏地測定各種元素。這種分析技術在許多應用中不需要高吸收輻射的濾光片。
SPECTRO XEPOS 偏振X射線熒光光譜儀 產品信息

SPECTRO XEPOS 偏振X射線熒光光譜儀

可廣泛地應用于石油、化工、冶金、礦業、制藥、食品、環保、地質、建材、廢物處理以及再加工工業等。以油中各種元素的分析為例。使用SPECTO XEPOS,在氦氣保護狀態下,在300秒鐘之內,對于P、S、Cl、Ca、Cu、Zn、Ba的檢測下限在1-7μg/g以上。

XEPOS型X射線熒光光譜儀還可廣泛應用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、(汞)等元素分析,檢出下限低,靈敏度高、穩定性好,可應對ELV、WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083標準等。

SPECTRO XEPOS 偏振X射線熒光光譜儀產品特點
SPECTRO XEPOS采用端窗鈀靶50W射線管。多可裝8個偏振靶和次級靶, 可設定各種不同的激發條件,以確保對從Na到U的元素進行測定。
光閘系統可以確保在更換樣品時無需關閉光管,從而提高了系統的穩定性。
SPECTRO XEPOS采用目前*的硅漂移檢測器(SDD)。無論計數率如何變化,分辨率均保持*。特別設計的準直器可顯著改善信噪比。光譜分辨率小于160eV(以Mn ka線計)。大計數率為120,000cps。在高計數率下仍有較高的分辨率,可縮短分析時間、提高分析準確度。


SPECTRO XEPOS*的分析性能不僅取決于它采用了功能強大的分析部件及*的偏振技術,而且還取決于其精準的進樣設計。德國斯派克分析儀器公司在開發 SPECTRO XEPOS時就專門考慮到進樣的問題。高精度樣品交換器、新型樣品盤的采用可大大減少機械和物力波動對測定的影響,改善分析結果。儀器配備樣品旋轉裝置,可進一步改善測定不均勻樣品以及表面不平整樣品的分析結果。
SPECTRO XEPOS軟件提供了一個簡單明了、使用簡便的操作界面。選定方法,輸入樣品識別信息,即可進行測定。通過完備的引導程序,操作者只需通過5個簡單步驟即可創建新的分析方法。采用基本參數法PF或采用專門的SPECTRO TurboQuant軟件,可輕而易舉的完成未知樣品的分析。SPECTRO XEPOS可搭載預制的應用軟件包。該應用軟件包括一套在出廠前就安裝和校正好的硬件和分析方法。適用于分析ROHS,廢渣,垃圾,油,水泥,爐渣等,SPECTRO XEPOS一機多用,是真正的多功能分析儀器。

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