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ZJC-E介質損耗因數測量儀

參考價 78000
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱北京智德創新儀器設備有限公司
  • 品       牌智德創新
  • 型       號
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2024/2/20 10:59:33
  • 訪問次數158
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北京智德創新儀器設備有限公司注冊資金5000萬,是集研發、生產、銷售、服務、管理為一體的高科技企業。是以中國航空航天研究院、中國為重要依托。聯合清華大學、北京航空航天大學、北京工業大學精儀系專家作為公司技術團隊。公司總部坐落于美麗富饒的政治經濟文化交流中心——北京市,物華天寶,人杰地靈。 北京智德創新儀器設備有限公司 自創建以來,一直保持著健康穩定的發展態勢,并以超過30%的年均增長速度快速持續發展,完善的客戶服務體系,確保了中航產品的設計*,質量穩定,供貨及時和服務周到。公司擁有自主的設計資質,已獲得十余項。公司擁有一批專業從事設計、制造、安裝、調試及售后服務的員工隊伍。在工程設計和技術研發上,公司擁有部級精儀高級工程師的專家團隊和專業、勇于創新的中青年專業技術人員和項目人員;中航本著“創造自我,締造輝煌”的堅定信念。 展望未來,北京智德創新儀器設備有限公司正在以打造基業長青百年企業的發展目標為指導,全面提升內部管控,按照專業化、規?;?、品牌化、資本化的發展策略,持續。同時,北京智德創新儀器設備有限公司不斷致力于與企業集團強強合作,以共創中國精密儀器行業的美好明天而不斷努力。
ZJC-E介質損耗因數測量儀是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據。
ZJC-E介質損耗因數測量儀 產品信息

ZJC-E介質損耗因數測量儀

1、影響介質損耗因數測量結果的因素

介質損耗因素不僅受到設備缺陷和電磁場干擾的影響, 還受到溫度、試驗電壓、試品電容的影響。

3.1 溫度的影響

溫度對 tanδ 測量的影響較大,絕大多數情況下,同一 種被試品的 tanδ 隨著溫度的升高而增大。但由于不同絕緣 介質或不同潮濕程度有著不同的隨溫度變化的規律,一般 無法將某一溫度下測得的介質損耗因數值準確換算至另一 溫度下的數值,在 20℃ 80℃之間,tanδ 隨著溫度而變 化的經驗公式為 tanδ=tanδ0e αt-t0),但這種溫度換算方法 所得的數據也只是近似的。最好在 10℃ 30℃范圍內并與 歷史試驗測量時相近的溫度下對設備進行 tanδ 測量。

3.2 試驗電壓的影響

對絕緣良好的設備而言,在一定試驗電壓范圍內,流 過絕緣介質的電流有功和無功分量隨著電壓的增加成比例 增加,因此介質損耗因數不會有明顯變化。但對于絕緣有 缺陷的設備來說,當電壓上升到介質的局部放電起始電壓 以上時,介質中夾雜氣泡或雜質的部分電場可能很強,會 首先放電,產生附加損耗,使測得的介質損耗因數值增加。 因此在較高電壓下測量 tanδ,可以較為真實地反映出設備的絕緣狀況,便于及時準確地發現設備絕緣存在的缺陷。

3.3 tanδ 與試品電容的關系

對于如套管、電壓互感器、電流互感器等電容量比較 小的設備,測量其介質損耗因數可以有效發現其存在的局 部集中性缺陷和整體分布性缺陷。但若集中性缺陷的體積 所占被試設備絕緣體積的比重很小,如大、中型變壓器等 大體積設備的局部缺陷,其引起的損耗只占總損耗中的極 小部分,則測量其介質損耗因數不能靈敏的反映絕緣缺陷, 應盡量進行分解試驗。下面通過公式來解釋這一現象。設 備絕緣由多種材料、多種部件構成,可以看作是由許多并 聯等值回路組成。

2、介電常數與耗散因數間的關系

介電常數又稱電容率或相對電容率, 是表征電介質或絕緣材料電 性能的一個重要數據,常用 ε 表示。  介質在外加電場時會產生感應 電荷而削弱電場,原外加電場(真空中)與最終介質中電場比值即為介 電常數。其表示電介質在電場中貯存靜電能的相對能力, 例如一個電 容板中充入介電常數為 ε 的物質后可使其電容變大 ε 倍。介電常數愈 小絕緣性愈好。如果有高介電常數的材料放在電場中, 場的強度會在 電介質內有可觀的下降。介電常數還用來表示介質的極化程度, 宏觀 的介電常數的大小, 反應了微觀的極化現象的強弱。氣體電介質的極 化現象比較弱,各種氣體的相對介電常數都接近1 ,液體、固體的介 電常數則各不相同,而且介電常數還與溫度、電源頻率有關

有些物質介電常數具有復數形式, 其實部即為介電常數, 虛數部 分常稱為耗散因數。

通常將耗散因數與介電常數之比稱作耗散角正切, 其可表示材料 與微波的耦合能力, 耗散角正切值越大, 材料與微波的耦合能力就越 強。例如當電磁波穿過電解質時,波的速度被減小,波長也變短了。

介質損耗是指置于交流電場中的介質, 以內部發熱的形式表現出 來的能量損耗。介質損耗角是指對介質施加交流電壓時, 介質內部流 過的電流相量與電壓向量之間的夾角的余角。介質損耗角正切是對電 介質施加正弦波電壓時, 外施電壓與相同頻率的電流之間相角的余角 δ  的正切值--tg δ.  其物理意義是:每個周期內介質損耗的能量//每個

周期內介質存儲的能量。

介電損耗角正切常用來表征介質的介電損耗。介電損耗是指電 介質在交變電場中, 由于消耗部分電能而使電介質本身發熱的現象。 原因是電介質中含有能導電的載流子,在外加電場作用下,產生導電電 流,消耗掉一部分電能,轉為熱能。任何電介質在電場作用下都有能量

損耗,包括由電導引起的損耗和由某些極化過程引起的損耗。

 tg δ作為綜合反應介質損耗特性優劣的指標, 其是一個僅僅取 決于材料本身的損耗特征而與其他因素無關的物理量, tgδ的增大意 味著介質絕緣性能變差, 實踐中通常通過測量 tgδ來判斷設備絕緣性 能的好壞。

由于介電損耗的作用電解質在交變電場作用下將長生熱量, 這些 熱會使電介質升溫并可能引起熱擊穿, 因此, 在絕緣技術中, 特別是 當絕緣材料用于高電場強度或高頻的場合,應盡量采用介質損耗因 數, 即電介質損耗角正切 tgδ較低的材料。但是, 電介質損耗也可用 作一種電加熱手段,即利用高頻電場(一般為0.3--300兆赫茲)對介 電常數大的材料(如木材、紙張、陶瓷等) 進行加熱。這種加熱由于 熱量產生在介質內部, 比外部加熱速度更快、熱效率更高, 而且熱均 勻。頻率高于300兆赫時,達到微波波段,即為微波加熱(家用微波 爐即據此原理)

在絕緣設計時, 必須注意材料的 tgδ值。若 tgδ過大則會引起嚴 重發熱,使絕緣材料加速老化,甚至導致熱擊穿。 

  一下例舉一些材料的 ε 值:

  石英-----3.8

  絕緣陶瓷-----6.0

  紙------70

  有機玻璃------2.63

  PE-------2.3

  PVC--------3.8

高分子材料的 ε 由主鏈中的鍵的性能和排列決定 

分子結構極性越強, ε tg δ越大。 

非極性材料的極化程度較小, ε tg δ都較小。 

當電介質用在不同場合時對介電常數與耗散因素的大小有不同 的要求。做電容介質時 ε 大、 tg δ??;對航空航天材料而言, ε 要小 tg δ要大。

另外要注意材料的極性越強受濕度的影響越明顯。主要原因是高 濕的作用使水分子擴散到高分子的分子之間, 使其極性增強; 同時潮 濕的空氣作用于塑料表面, 幾乎在幾分鐘內就使介質的表面形成一層 水膜, 它具有離子性質, 能增加表面電導, 因此使材料的介電常數和 介質損耗角正切 tgδ都隨之增大。故在具體應用時應注意電介質的周 圍環境。

電介質在現代生活中經常被用到, 而介電常數與耗散因素是電介 質的兩個重要參數, 根據不同的要求, 應當選用具有不用介電常數與 耗散因數的材料, 以達到最佳的效果。同時還應當注意外界因素對介 電常數與耗散因數的影響。

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3、儀器符合標準

GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質損耗因數的推薦方法;GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切值的測定方法;ASTM D150-11實心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率(介電常數)的標準試驗方法;GBT5594.4-2015電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法;

4、ZJC-E介質損耗因數測量儀型號及參數

項目/型號

ZJD-B

ZJD-A

ZJD-C

信號源

DDS數字合成信號

頻率范圍

10KHZ-70MHZ

10KHZ-110MHZ

100KHZ-160MHZ

信號源頻率覆蓋比

7000:1

11000:1

16000:1

采樣精度

11BIT

12BIT

信號源頻率精度

3×10-5 ±1個字,6位有效數

Q值測量范圍

11000自動/手動量程

Q值量程分檔

30、1003001000、自動換檔或手動換檔

Q分辨率

4位有效數,分辨率0.1

Q測量工作誤差

5%

電感測量范圍

1nH8.4H,;分辨率0.1

1nH140mH;分辨率0.1

電感測量誤差

3%

電容直接測量范圍

1pF2.5uF

1pF25uF

調諧電容誤差分辨率

±1pF或<1%

主電容調節范圍

30540pF

17240pF

諧振點搜索

自動掃描

自身殘余電感扣除功能

大電容值直接顯示功能

介質損耗直讀功能

介質損耗系數精度

萬分之一

介質損耗測試范圍

0.0001-1

介電常數直讀功能

介電常數精度

千分之一

介電常數測試范圍

0-1000

LCD顯示參數

F,L,C,Q,LT,CT,波段等

準確度

150pF以下±1pF150pF以上±1%

Q合格預置范圍

51000聲光提示

環境溫度

0℃~+40

消耗功率

25W

電源

220V±22V50Hz±2.5Hz

極片尺寸

38mm/50mm(二選一)

極片間距可調范圍

15mm

材料測試厚度

0.1-10mm

夾具插頭間距

25mm±0.01mm

夾具損耗正切值

4×104 1MHz

測微桿分辨率

0.001mm

測試極片

材料測量直徑Φ38mm/50mm,厚度可調 ≥ 15mm

 


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