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多功能超聲波測厚儀CMXDL+

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱北京天創時代檢測設備有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2024/2/16 14:41:47
  • 訪問次數230
產品標簽:

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精確檢測才能快速解決--我們為您提供高品質的檢測儀器,令您的業務在高產、高效、低成本中穩定運行!被檢產品的質量取決于檢測設備的質量--這就是為什么許多公司的產品質量,極為依賴于高精度等級的檢測設備的原因。我們代理世界上的NDT檢測儀器集團的檢測設備,助您的事業騰飛!北京天創時代檢測設備有限公司成立于2001年,由從事多年檢測儀器相關工作的人員組成,專業從事檢測、計量儀器的代理、銷售和服務,與美國、德國和英國等國外廠商建立了密切的聯系,產品銷往全國各大企業,涉及冶金、電力、石化、船舶、航空航天及科研單位。
測厚儀
多功能超聲波測厚儀CMXDL+美國DAKOTA公司CMXDL+多功能超聲波測厚儀,帶A/B掃描功能,可測量材料的厚度,穿透涂層測量材料厚度,也可以測量涂層的厚度
多功能超聲波測厚儀CMXDL+ 產品信息
多功能超聲波測厚儀CMXDL+
美國DAKOTA公司CMXDL+多功能超聲波測厚儀,帶A/B掃描功能,可測量材料的厚度,穿透涂層測量材料厚度,也可以測量涂層的厚度。用戶可根據需求選擇不同的功能配置,以獲得更好的性價比。
標準版為灰度顯示屏,可選彩屏版。

儀器特點
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100MHz FPGA時序電路設計
可選彩色和灰度顯示屏
A/B掃描
手動調節增益和自動增益控制 (AGC),范圍:110dB
自動時間相關增益(TDG)
多種測量模式
脈沖-回波(P-E)模式:測量材料厚度
脈沖-回波涂層(PECT)模式:同時測量材料和涂層厚度
脈沖-回波溫度補償(PETP)模式:測量材料厚度
回波-回波(E-E)模式:穿過涂層測量材料厚度
回波-回波驗證(E-EV)模式: 穿過涂層測量材料厚度
測量涂層(CT)模式:只測量涂層厚度
可接雙晶探頭和單晶探頭(包括延遲塊探頭、接觸式探頭、筆形探頭)
USB Type-C數據接口
內置4GB SD存儲卡
多功能超聲波測厚儀CMXDL+
技術參數
測量
脈沖-回波(P-E)模式測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼)
脈沖-回波涂層(PECT)模式測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼),0.0254~2.54mm(涂層)
脈沖-回波溫度補償(PETP)模式 測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼)
回波-回波(E-E)模式測量范圍:2.54~152.4mm(鋼,穿過涂層測量,隨涂層厚度的不同,測量范圍也會變化)
回波-回波驗證(E-EV)模式測量范圍:2.54~102mm(鋼,穿過涂層測量,隨涂層厚度的不同,測量范圍也會變化)
測量涂層(CT)模式測量范圍:0.0127~2.54mm(涂層)
分辨率:0.01mm
聲速范圍:309.88~18542m/s
單位:公制或英制
校準:一點和兩點校準方式
顯示
顯示屏:1/8英寸VGA灰色顯示,240x160象素。可視區62x45.7mm,EL背光;可選1/4英寸彩色顯示屏,320x240象素
A-掃描方式:檢波+/-(缺陷視場),RF(全波視場)。刷新頻率25Hz/60Hz(彩色顯示屏)。縱向和橫向視圖(彩色顯示屏)
B-掃描方式:基于時間的橫截面視圖。 顯示速度為每秒10到200個讀數
大數字方式:標準厚度顯示,數字高度17.78mm/14.35mm(彩色顯示屏)
厚度條形掃描:速度10Hz,在B-掃描和大數字顯示中可見
穩定度指示:表示測量值的穩定性
功能狀態指示:顯示當前激活的功能
超聲波參數
測量模式:P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT
脈沖:可調方波脈沖發生器
接收:根據選擇模式在110dB范圍內采用手動或AGC增益控制,阻抗50~1500Ω可調
計時:單次100MHz8位超低功耗數字化儀的精確TCXO計時
脈沖重復頻率:250Hz
探頭
頻率范圍:1~20MHz
雙晶探頭和單晶探頭(延遲塊、接觸式、筆式)
LEMO接口,1.2米探頭線
可定制用于特殊應用的探頭
存儲
容量:內置4GB SD卡
數據結構:網格(字母數字)和順序(自動識別)
截屏功能:位圖圖形捕獲,用于快速記錄
數據輸出:通過USB Type-C連接的計算機
功能
設置:64個用戶定義設置,用戶也可編輯出廠設置
探頭類型可選:內置雙路誤差校正,提高線性度
報警模式:上下限視聽報警
快速掃描模式:每秒250個讀數,當探頭離開時顯示最小值
其他
鍵盤:12個觸摸鍵
電源:標配為三節5號堿性電池 ,可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態指示。無操作五分鐘后自動關機。USB Type-C供電
外殼:擠壓鋁機殼,底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝
工作溫度:-10~60℃
尺寸重量:63.5x165x31.5mm,含電池385g
包裝:ABS工程塑料箱
出廠證書:工廠校準可追溯到NIST和MILSTD-45662A標準
雙晶探頭
型號 頻率 探頭晶片直徑 探頭防磨面直徑 測量范圍 說明
T-102-2900 5.0MHz 6.35mm 9.53mm 1.0~152mm 標準CT探頭(可測涂層厚度)
T-101-2900 5.0MHz 4.76mm 6.35mm 1.0~50mm 小管徑CT探頭
T-102-3300 7.5MHz 6.35mm 9.53mm 0.63~152mm 超薄探頭
T-104-2900 5.0MHz 12.7mm 15.88mm 1.27~508mm 超厚CT探頭
T-042-2000 5.0MHz 6.35mm 9.53mm 1.0~152mm 標準高溫探頭,340℃
T-044-2000 5.0MHz 12.7mm 15.88mm 1.27~508mm 超厚高溫探頭,340℃
T-212-2001 5.0MHz 6.35mm 9.53mm 1.0~152mm 超高溫探頭,480℃
T-214-2001 5.0MHz 12.7mm 15.88mm 1.27~508mm 超厚超高溫探頭,480℃
注:測試高溫表面時需用

單晶探頭
探頭型號 頻率 描述 說明
T-402-5507 15MHz 晶片Ø6.35mm 標準延遲塊探頭
T-402-6507 20MHz 晶片Ø6.35mm 延遲塊探頭
T-4903-2875 5MHz 晶片Ø3.18mm,防磨面Ø6.35mm 接觸式探頭
T-4903-4875 10MHz 晶片Ø3.18mm,防磨面Ø6.35mm 接觸式探頭
T-4023-2855 5MHz 晶片Ø6.35mm,防磨面Ø9.53mm 接觸式探頭
T-4023-4855 10MHz 晶片Ø6.35mm,防磨面Ø9.53mm 接觸式探頭
T-481-4507 10MHz 延遲塊前端Ø1.59mm 筆式探頭
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