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美國 CRAIC(克雷克)FLEX 全光譜微量物證檢驗工作站

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱深圳市法翼科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地深圳市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2023/7/12 11:23:35
  • 訪問次數(shù)262
產(chǎn)品標簽:

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深圳市法翼科技有限公司成立于2010年,是一家專業(yè)從事應急通信、電子物證類代理與研發(fā)的企業(yè),總部位于深圳。經(jīng)過了20年的長足發(fā)展,從專業(yè)的海外品牌代理,到高度滿足客戶應用需求的研發(fā)服務(wù),今天的法翼已經(jīng)成為中國境內(nèi)為數(shù)不多的系統(tǒng)裝備及行業(yè)解決方案提供商。廣告語.png 憑借多年來對各的成功代理,今天的法翼在業(yè)界已經(jīng)享有了較高的度。在堅持為政府部門提供管理經(jīng)驗與技術(shù)裝備的同時,法翼也為眾多大型企業(yè)用戶提供優(yōu)質(zhì)的安檢設(shè)備,同時還為北京會、達沃斯論壇、世界互聯(lián)網(wǎng)大會、曹妃甸論壇等國際盛事與大型會議提供過專業(yè)的安保解決方案。 目前,公司已在北京、上海、西安、成都、沈陽等城市設(shè)有分公司或辦事處;與眾多企事業(yè)單位建立了戰(zhàn)略合作伙伴關(guān)系;與二十多個國家的五十多種裝備生產(chǎn)廠家簽訂了代理協(xié)議,并在中國市場實現(xiàn)了成功的推廣銷售,贏得了廣大終端用戶的! 2017年法翼正式成立自己的研發(fā)部門,經(jīng)過了近五年的扎實努力,目前已擁有12項實用新型,34件軟件著作權(quán)。我司研發(fā)的應急通信和人臉識別類產(chǎn)品已在多個省市的、人防、、應急、交通等領(lǐng)域得到廣泛的應用。 “法翼”從安檢設(shè)備到通信裝備,法翼始終堅持產(chǎn)品升級與技術(shù)進步,致力于讓國人享受更優(yōu)質(zhì)的安保服務(wù),促進國家的安定團結(jié)與經(jīng)濟社會的穩(wěn)定發(fā)展,為人民生命財產(chǎn)保護提供技術(shù)保障!讓信任、支持我們的客戶安心、愉悅地使用我們的產(chǎn)品!讓平安、舒心的笑容在人們臉上綻放!讓成功、收獲的喜悅在人們心間流淌!這是“法翼"的心愿與使命!
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產(chǎn)品分類:文檢儀 產(chǎn)品簡介:美國CRAIC(克雷克) FLEX全光譜微量物證檢驗工作站,不僅可以讓用戶測試微米級樣品的吸收、反射、拉曼、熒光激發(fā)或其他光源類型下的光譜,還提供了數(shù)字成像功能。
美國 CRAIC(克雷克)FLEX 全光譜微量物證檢驗工作站 產(chǎn)品信息

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一、產(chǎn)品概況:

       美國CRAIC(克雷克) FLEX全光譜微量物證檢驗工作站采用新技術(shù),不僅可以讓用戶測試微米級樣品的吸收、反射、拉曼、熒光激發(fā)或其他光源類型下的光譜,還提供了數(shù)字成像功能。光譜測試的范圍從深紫外到近紅外,可實現(xiàn)全波段的成像。
       FLEX具備光譜及圖像分析軟件、自動化的參數(shù)設(shè)置、簡單易用、能長時間穩(wěn)定工作。
       FLEX集成了(紫外-可見-近紅外)光譜儀、成像系統(tǒng)于一身,同時光譜儀和數(shù)字成像系統(tǒng)都使用了新的顯微鏡光路系統(tǒng)。產(chǎn)品配備多種類型的光源包,包括透射光、反射光、熒光等,也可以根據(jù)用戶定制化需求提供偏振光和拉曼激光。
       FLEX擁有高分辨率的數(shù)字彩色成像系統(tǒng)。它的高精度軟件不僅可以控制顯微鏡、光譜儀和數(shù)字成像系統(tǒng),還提供了分析功能,甚至可應用于薄膜厚度測量。
       FLEX高靈敏度的熱電制冷固態(tài)陣列檢測器件,增強了光學器件的信噪比,并保證設(shè)備能長時間穩(wěn)定地工作。

 


 

二、應用領(lǐng)域:

  刑偵物證分析鑒定:
     1.  微量物證分析,如:痕跡證據(jù)、法醫(yī)藥物化學、可疑性文件、有機發(fā)光二極管相關(guān)物體、平板彩色面具、半導體膜厚度、MEMS設(shè)備、表面等離子體共振等;
     2.  文檢光譜分析,如:筆跡鑒定、證件真?zhèn)悟炞C、古跡字畫鑒定等。   
  生物樣品分析測試:主要用于
食藥案件中的非法添加物、添加物的檢驗和鑒定工作等。如:光子帶隙型晶體、過程雜質(zhì)檢測、蛋白質(zhì)晶體、組合化學等。

 
三、功能特色:

  特色概述:

為UV-visible-NIR(紫外光-可見光-近紅外光)顯微分光和顯微成像提供了一種經(jīng)濟、高效的解決方案;
UV-visible-NIR(紫外光-可見光-近紅外光)顯微分光功能;
UV-visible-NIR(紫外光-可見光-近紅外光)成像功能;
透射、反射、偏振和熒光顯微分光;
透射、反射、偏振和熒光顯微成像;
拉曼顯微分光功能(選配);
薄膜厚度測量功能;
可對微觀樣本進行比色分析;
可使用rIQ包進行折射率的測量(選配);
新型的Lightblades技術(shù);
集成化的TE冷卻陣列探測器具有長期穩(wěn)定性,噪音很低;
可校準的、可變測量區(qū)可精確至1μm范圍以內(nèi);
帶有目鏡和數(shù)字成像特性的高級圖像;
專門的軟件包括統(tǒng)計分析,光譜數(shù)據(jù)分析,圖像分析等;
易于使用和維護;
由顯微光譜學專家設(shè)計。

 

  經(jīng)濟、高效的顯微鏡

顯微光譜范圍從紫外光到可見光,再到近紅外光。顯微鏡對采樣孔和樣本進行同步直接成像,以進行快速、準確地測量。
得益于的Lightblades技術(shù),甚至連亞微米級樣品的透射、反射和熒光光譜都可以測量。
CRAICT技術(shù)也是NIST可追蹤微光譜儀標準的來源。

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  靈活的拉曼顯微鏡

安裝了CRAIC Apollo™ 拉曼光譜儀模塊后,F(xiàn)LEX可以測量拉曼、共振拉曼和其他類型的顯微樣本。設(shè)備可提供激光模塊、拉曼光譜模塊和接口光學模塊,確保您可以采集到樣本的高質(zhì)量拉曼光譜。

 
  高靈敏度顯微熒光測量和成像:

FLEX可以通過配置獲得顯微樣品的熒光/冷光光譜和圖像。它擁有極富特色的Lightblades技術(shù),以及從深紫外光到近紅外光,以及測量相同范圍內(nèi)的放射物的能力,是應用于材料科學、生物學、地質(zhì)學等領(lǐng)域的微熒光測量的強大工具。

 
  光譜表面繪圖™:

可結(jié)合硬件和軟件,運用微觀空間分辨率,對樣本進行自動光譜分析和三維繪圖。帶有吸收、透射、反射、熒光、發(fā)射和拉曼光譜等詳情的三維繪圖可能會一起生成。

 
  紫外近紅外光的圖像質(zhì)量:

FLEX擁有能高分辨率數(shù)碼成像的(紫外光-可見光-近紅外)顯微鏡,彩色、紫外光和近紅外光區(qū)域均覆蓋。通過其精巧的成像軟件,F(xiàn)LEX擁有實時成像,并通過投射、反射、偏振和熒光進行圖像捕捉的能力。





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