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可擴(kuò)展功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)

參考價(jià) 60000
訂貨量 ≥1臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng)北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
  • 品       牌華測(cè)
  • 型       號(hào)HC系列
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2025/3/3 14:04:08
  • 訪問(wèn)次數(shù)517
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公司研發(fā)的高壓絕緣診斷技術(shù)、動(dòng)力電池隔膜檢測(cè)技術(shù)先后應(yīng)用于比亞迪、寧德時(shí)代等企業(yè)。檢測(cè)儀器從儀器生產(chǎn)、安全防護(hù)、數(shù)據(jù)采集、通訊網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)到云管理系統(tǒng),為用戶(hù)提供有競(jìng)爭(zhēng)力的系統(tǒng)級(jí)方案與服務(wù),幫助用戶(hù)在新材料研發(fā)與檢測(cè)獲得成功。我們堅(jiān)持聚焦戰(zhàn)略,對(duì)新材料檢測(cè)儀器、智能裝備、高精度數(shù)據(jù)采集、系統(tǒng)集成和嵌入式控制領(lǐng)域持續(xù)進(jìn)行研發(fā)投入,以用戶(hù)需求和前沿技術(shù)驅(qū)動(dòng)創(chuàng)新,使公司始終處于行業(yè)前沿。


公司主營(yíng)產(chǎn)品:

幾大系列:功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。


我們深信未來(lái)是一個(gè)更加智慧的世界,華測(cè)公司與合作伙伴一起,努力研發(fā)更加高效的檢測(cè)系統(tǒng)以工業(yè)自動(dòng)化設(shè)備,推動(dòng)中國(guó)新材料時(shí)代發(fā)展的進(jìn)程,推動(dòng)世界的進(jìn)步,并堅(jiān)信世界因我們而不同。




電壓擊穿試驗(yàn)儀,耐電弧試驗(yàn)儀
本套系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試,以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試。與國(guó)際電學(xué)檢測(cè)儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫(kù)處理、軟件兼容性做了大量的接口。無(wú)論在軟件與硬件方面,使本套儀器在未來(lái)更易于擴(kuò)展。更加節(jié)省改造時(shí)間與硬件成本。可擴(kuò)展功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)
可擴(kuò)展功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)


可擴(kuò)展功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)

鐵電參數(shù)測(cè)試功能

Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率

Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測(cè)試;

PUND 脈沖測(cè)試;

Fatigue 疲勞測(cè)試;

Retention保持力;

Imprint印跡;

Leakage current漏電流測(cè)試;

Thermo Measurement 變溫測(cè)試功能。

壓電參數(shù)測(cè)試功能

可進(jìn)行壓電陶瓷的準(zhǔn)靜態(tài)d33等參數(shù)測(cè)試,也可通過(guò)高壓放大器與位移傳感器(如激光干涉儀)動(dòng)態(tài)法測(cè)量壓電系數(shù)測(cè)量。

可擴(kuò)展功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)

熱釋電測(cè)試功能

主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測(cè)試。采用電流法進(jìn)行測(cè)量材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度對(duì)溫度和時(shí)間的曲線。

薄膜材料變溫范圍:-196℃到+600℃;

塊體材料變溫范圍:室溫到200℃、室溫到600℃、室溫到800

介電溫譜測(cè)試功能

用于分析寬頻、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量,同時(shí)還可以分析被測(cè)樣品隨溫度、頻率、時(shí)間、偏壓變化的曲線。也可進(jìn)行壓電陶瓷的居里溫度測(cè)試。

可擴(kuò)展功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)

熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC

 用于研究材功材料性能的一些關(guān)鍵因素,諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等,通過(guò)TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性。

可擴(kuò)展功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)

絕緣電阻測(cè)試功能

高精準(zhǔn)度的電壓輸出與電流測(cè)量,保障測(cè)試的品質(zhì),適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測(cè)。例如:陶瓷材料、硅橡膠測(cè)試、PCB、云母、四氟材料電阻測(cè)試、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的性能測(cè)試。

高溫四探針測(cè)試功能

符合功能材料導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測(cè)試多樣化的需求。雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。


塞貝克系數(shù)/電阻測(cè)量系統(tǒng)

適用于半導(dǎo)體,陶瓷材料,金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析;可根據(jù)用戶(hù)需求配置薄膜測(cè)量選件,低溫選件溫度范圍-100℃到200℃,高阻選件高至10MΩ


電卡效應(yīng)測(cè)試功能

還可以用于測(cè)試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能。

溫度范圍:-50℃到200℃、熱流時(shí)間范圍:1s-1000s,zui大電壓可達(dá)10kV

波形:用戶(hù)自定、脈沖、三角波、正弦波、任意波形、預(yù)定義波形。

用戶(hù)可選擇不同的配置




可擴(kuò)展功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)




設(shè)備優(yōu)勢(shì)

本套系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試,以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試。與國(guó)際電學(xué)檢測(cè)儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫(kù)處理、軟件兼容性做了大量的接口。無(wú)論在軟件與硬件方面,使本套儀器在未來(lái)更易于擴(kuò)展。更加節(jié)省改造時(shí)間與硬件成本。

可擴(kuò)展功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)

性能優(yōu)勢(shì)

  華測(cè)儀器依托多年高壓控制、測(cè)試方面多年的技術(shù)成果,安全保護(hù):增加TVS保護(hù)過(guò)壓、過(guò)流、過(guò)溫等技術(shù),更加安全與可靠。軟件設(shè)計(jì):借鑒國(guó)際上等品牌,在測(cè)試功能、數(shù)據(jù)處理、操作等更加人性化等方面做了大量的改進(jìn);測(cè)量精度:與國(guó)際儀器做了大量的測(cè)試對(duì)標(biāo),與國(guó)內(nèi)航天通力合作;進(jìn)行檢測(cè)計(jì)量。保證數(shù)據(jù)的有效與真實(shí)。

可擴(kuò)展功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)

研發(fā)優(yōu)勢(shì)

研發(fā)團(tuán)隊(duì)擁有多領(lǐng)域、多學(xué)科的博士、碩士專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員,他們致力于材料電學(xué)、電力電子、信號(hào)、測(cè)控、精密加工方面的研究,并且是掌握材料電學(xué)檢測(cè)技術(shù)專(zhuān)li的科研團(tuán)隊(duì)!自成立以來(lái)獲多方科研機(jī)構(gòu)、大學(xué)試驗(yàn)室支持,聘請(qǐng)多個(gè)院校的專(zhuān)家教授,組建華測(cè)儀器專(zhuān)家顧問(wèn)團(tuán)

定制化服務(wù)

電學(xué)試驗(yàn)室擁有泰克、是德科技國(guó)際品牌大批檢測(cè)設(shè)備;生產(chǎn)制造方面,公司有4軸、5CNC加工中心、超精磨床等一大批生產(chǎn)、加工設(shè)備,ISO9001國(guó)際質(zhì)量體系認(rèn)證,在工裝、夾具定制化方面更加方便、高效。

更優(yōu)xiu的測(cè)試功能

HCTD3000鐵電測(cè)試系統(tǒng)具有寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍,性?xún)r(jià)比非常高,滿(mǎn)足了用戶(hù)追求高性?xún)r(jià)的需求。主機(jī)內(nèi)置電壓檔位有±10V±30V±100V±200V±500V可選。在±10V的內(nèi)置電壓下,電滯回線測(cè)試頻率達(dá)到2MHz;在±500V的內(nèi)置電壓下,電滯回線測(cè)試頻率達(dá)到±2kHz。此系統(tǒng)還可外部擴(kuò)展電壓到4kV10kV,也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電和磁電測(cè)試功能。此系統(tǒng)包含Vision基本鐵電管理測(cè)試軟件。此外還可外部擴(kuò)展電壓到4kV10kVPremier II在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線,脈沖,漏電流,IVCV測(cè)試,也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、磁電測(cè)試和晶體管特性測(cè)試功能。

標(biāo)準(zhǔn)配置

Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率;

PUND 脈沖測(cè)試:zui小脈沖寬度2μs,zui小上升時(shí)間1 μsFatigue 疲勞測(cè)試,zui大頻率300kHz

Retention 保持力測(cè)試;

Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測(cè)試;

Imprint 印跡;

Leakage current 漏電流測(cè)試:100fA to 1A

可擴(kuò)展功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)

更多測(cè)試功能

可擴(kuò)展功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)

高溫部分通過(guò)近紅外爐實(shí)現(xiàn)zui高可實(shí)現(xiàn)RT~1500°c環(huán)境下測(cè)試低溫部分通過(guò)冷熱臺(tái)實(shí)現(xiàn)可實(shí)現(xiàn)-180~450°c環(huán)境下測(cè)試高、低溫介電溫譜測(cè)試頻率I zui大測(cè)試范圍20HZ-30MHZ


擴(kuò)展測(cè)試裝置



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