半導體器件參數測試儀SC2520
一、半導體器件參數測試儀SC2520產品概述
半導體器件參數測試儀SC2520是一款通用型分立器件參數測試設備，可測試多種半導體器件的靜態直流參數，測試儀可單機工作，也可連接上位機程控測試，測試速度快，精度高，測試電壓達2.5KV，電流達200A，基本可以覆蓋絕大多數中小功率單管及模塊的測量，測試數據可單機實時讀取，也可上位機生成TXT或EXCEL報表導出，方便用戶使用。
二、產品功能
半導體器件參數測試儀SC2520主要測試半導體器件的種類和參數如下：
MOS：Rdson、Vfd、IGSF、IGSR、Vgth、Vdss、Idss
IGBT：Vcesat、Vfd、IGSF、IGSR、Vgth、Vces、Ices
BJT：Vcesat、hFE、BVcbo、Icbo、BVceo、Iceo、BVebo、Iebo、Vces、Ices
DIODE：Vfd、Vr
ZENER：Vfd 、Vz
TVS：Vfd 、Vz
LED：Vfd、 Vr
RES：R（針對大電流小阻值取樣電阻）
OPTO：Vfd、Ir、CTR、Iceo、Vr、BVceo、Veco
MOV：壓變電阻Vc
RELAY：Rcontact、Rcoil、V吸合、V釋放
三、技術參數
項目 | 參數 | 單位 |
電流檔 0~100mA 分辨率 | 0.01 | mA |
電流檔 100~1000mA 分辨率 | 0.1 | mA |
電流檔 1~10A 分辨率 | 1 | mA |
電流檔 10~200A 分辨率 | 10 | mA |
脈沖電流檔位 | 四 | 檔 |
檔位步進 | 0.01 | % |
脈沖寬度 | 500 | us |
開路輸出電壓 | ≥60 | V |
正向壓降測量范圍 | 0~10 | V(100-200A) |
正向壓降測量范圍 | 0~60 | V(≤100A) |
柵極輸出電壓 | ±30 | V |
柵極漏電流測試范圍 | 600nA，±6μA ±60μA ±600μA ±6mA ±60mA ±600mA |
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柵極漏電流帶快速充電功能 | 有 |
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耐壓電壓 | 0~2500 | Vdc |
耐壓電流 | 0~2μA 0~20μA 0~200μA 0~2000μA |
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漏電電流一鍵 zero 校零技術 | 漏電分辨率可達 100pA |
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可手動按鈕觸發，也可腳踏觸發功能 | 有 |
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隔離的 RS-485 通訊端口 | 有 |
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RS-485 接口升級軟件 | 有 |
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供電電壓 | 220 | VAC |
四、應用領域及場景
>測試分析(功率器件研發設計階段的初始測試)
>失效分析(對失效器件進行測試，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案)
>選型配對(在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數據比較一致的器件進行分類配對)
>來料檢驗(研究所及電子廠的質量部(IQC)對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率)
>量產測試(可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備，實現規?；?、自動化測試)
