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北京彼奧德電子技術有限公司
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簡要描述: 對于樣品的比表面積及孔徑的測試,由于多孔材料自身吸附性、保存和使用環境的影響,樣品在長期或短時間暴露在空氣中都會出現被雜質氣體、水分等物質的污染,從而影響比表面積及孔徑的測試結果。為解決樣品自身吸附性能和使用存放環境帶來的問題,MD-200全自動樣品前處理器提供了完善的解決辦法,儀器通過真空抽離,升溫脫氣、脫水,注氣保護等方式,使樣品達到測試要求。
設備簡介
對于樣品的比表面積及孔徑的測試,由于多孔材料自身吸附性、保存和使用環境的影響,樣品在長期或短時間暴露在空氣中都會出現被雜質氣體、水分等物質的污染,從而影響比表面積及孔徑的測試結果。
為解決樣品自身吸附性能和使用存放環境帶來的問題,MD-200全自動樣品前處理器提供了完善的解決辦法,儀器通過真空抽離,升溫脫氣、脫水,注氣保護等方式,使樣品達到測試要求。
產品優勢
與集成在比表面積及孔徑設備上的樣品脫氣站相比,獨立的MD-200全自動樣品前處理器具備如下特點:
① 具備獨立的真空系統和氣路系統
② 漏氣率低、氣路污染問題容易處理
③ 全自動控制
技術參數
1.控溫范圍:室溫~450℃
2.控溫精度:0.01℃
3.溫度控制系統:日本島電
4.處理樣品數量:3個( 可擴展至6個)
5.真空度:7X10-2Pa
6.氣體保護系統:氮氣
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