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蘇州同創(chuàng)電子有限公司


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簡(jiǎn)易四探針測(cè)試儀SZT-4

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品       牌

廠商性質(zhì)其他

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更新時(shí)間:2024-07-21 08:35:30瀏覽次數(shù):89次

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經(jīng)營(yíng)模式:其他

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所在地區(qū):江蘇蘇州市

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

SZT-4數(shù)字式四探針測(cè)試儀,是二量程的電阻測(cè)量?jī)x器,配以手持式測(cè)試頭或座式測(cè)試架,可用來(lái)測(cè)量片狀,柱狀,或塊狀,電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導(dǎo)體材料

詳細(xì)介紹

簡(jiǎn)易四探針測(cè)試儀SZT-4


SZT-4數(shù)字式四探針測(cè)試儀,是二量程的電阻測(cè)量?jī)x器,配以手持式測(cè)試頭或座式測(cè)試架,可用來(lái)測(cè)量片狀,柱狀,或塊狀,電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導(dǎo)體材料。(客戶根據(jù)不同的要求可以選擇不同的量程,最小可以測(cè)量0.0001Ω可以測(cè)量100000Ω,根據(jù)電流檔定精度)通過(guò)對(duì)恒流源的調(diào)整,可以對(duì)某些測(cè)量結(jié)果進(jìn)行修整,例如對(duì)普通硅材料的測(cè)試結(jié)果要乘以0.628的探險(xiǎn)頭修正系數(shù),對(duì)硅材料薄層擴(kuò)散和導(dǎo)電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數(shù)為4.53等均可通過(guò)調(diào)正恒流電流加以處理。SZT-4數(shù)字式四探針測(cè)試儀,體形小巧,操作方便,量程適中,十分適於對(duì)重?zé)捇亓系姆诌x。

本儀器工作環(huán)境條件為:
溫  度:18℃―25℃
相對(duì)濕度:60%-80%
工作室內(nèi)應(yīng)無(wú)強(qiáng)電場(chǎng)干擾,不與高頻設(shè)備共用電源。

二,技術(shù)參數(shù)

1,測(cè)量范圍
電 阻 率:0.01-200Ω-cm
方塊電阻:0.01-200Ω-口
電 阻:0.01-200.0

2,數(shù)字電壓表
(1)量 程:200mV單一量程
(2)誤 差:讀數(shù) ±0.2%±3字
(3)輸入電阻:>10MΩ

3,恒流源
(1)電流輸出:0~10mA連續(xù)可調(diào)
(2)量 程:1mA, 10mA
(3)誤 差:±0.2%±3字,

4,手持式四探針測(cè)試頭
(1)探 針 間 距:1mm
(2)探針機(jī)械游移率:±1.0%
(3)探 針 材 料:碳化鎢,φ0.
(4)壓力: 2Kg

5,電源:220V±10%:50Hz
功耗:5W

6,外形尺寸:

7,使用方法:取出儀器平放於桌上,將三芯電源線接入儀器的電源插座中,并接通交流電壓(220V),再將測(cè)試探頭的插頭插入相應(yīng)的插座中,按下電源開(kāi)關(guān)使儀器得電,儀器上的數(shù)字電壓表就有讀數(shù)顯示,如果面板上的二個(gè)功能開(kāi)關(guān)全部處?kù)稄棾鰻顟B(tài),則二個(gè)開(kāi)關(guān)旁邊的“調(diào)整"指示燈和:“1mA"指示燈將被點(diǎn)亮,此時(shí)旋轉(zhuǎn)電流調(diào)節(jié)旋鈕電壓表讀數(shù)就會(huì)發(fā)生有規(guī)則的變化,這說(shuō)明儀器已經(jīng)可以正常工作。
下一步就可以跟據(jù)測(cè)試的須要對(duì)電流進(jìn)行調(diào)整。電流調(diào)整應(yīng)該將電流開(kāi)關(guān)放在10mA的位置上。

8,電流調(diào)整:
(1)半導(dǎo)體(硅)材料的電阻率測(cè)試:在10mA電流量程上將電流調(diào)到6.28mA,相當(dāng)于在10mA電流情況下測(cè)得的結(jié)果,乘以探頭修正系數(shù)0.628。由於恒流源的調(diào)整,1mA和10mA是同步的,在`10mA調(diào)準(zhǔn)以后1mA量程同樣包含有這個(gè)修正系數(shù)。
(2)半導(dǎo)體(硅)材料薄層擴(kuò)散,玻璃或塑料的薄導(dǎo)電鍍復(fù)層的方塊電阻 測(cè)試:在10mA電流量程上將電流調(diào)至4.53mA, 測(cè)得結(jié)果乘以10,就是方塊電阻。
(3)電阻測(cè)試:電阻測(cè)試不能使用探頭,必須換用帶有鱷魚(yú)夾子的四線插頭“電阻測(cè)試線"(選配件)。電流調(diào)到10mA,電壓表的顯示值就是電阻值,不用修正。
(4)在做好測(cè)試前的準(zhǔn)備工作之后,取下探頭保護(hù)蓋,將探頭壓在被測(cè)工件上,使四根探針和工件保持良好接觸,

使用時(shí)的注意事項(xiàng):
(1)保護(hù)蓋取下后一定要保存好,用畢仍要蓋好,以防探針損壞。
(2)儀器操作時(shí),應(yīng)備戴乾燥手套,操作場(chǎng)地,桌椅均應(yīng)保持乾燥。
(3)在被測(cè)材料外形尺寸允許的情況下,建議使用臺(tái)式測(cè)試架(選購(gòu)件),可使測(cè)試精度和穩(wěn)定性都會(huì)有所提高。
(4)對(duì)於被測(cè)工件為片狀其厚度<3.49毫米時(shí),還應(yīng)對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行厚度修正,修正參數(shù)見(jiàn)參數(shù)表,附錄`1A和附錄1B 。
(5)附錄2,是對(duì)片狀工件外形(園形,矩形)和測(cè)量位置的修正參數(shù)表。


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