TimeTagger20多路時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)器TDC符合儀模塊簡(jiǎn)介T(mén)imeTagger20產(chǎn)品是具有數(shù)據(jù)處理架構(gòu)的時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換器，尤其適用于時(shí)間相關(guān)的單光子計(jì)數(shù)、時(shí)間間隔計(jì)數(shù)、符合計(jì)數(shù)和數(shù)字協(xié)議分析

詳細(xì)介紹

Time Tagger 20 多路時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)器 TDC 符合儀模塊

簡(jiǎn)介

Time Tagger 20產(chǎn)品是具有數(shù)據(jù)處理架構(gòu)的時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換器，尤其適用于時(shí)間相關(guān)的單光子計(jì)數(shù)、時(shí)間間隔計(jì)數(shù)、符合計(jì)數(shù)和數(shù)字協(xié)議分析。Time Tagger應(yīng)用廣泛，可用于包括量子技術(shù)、單分子顯微鏡、熒光相關(guān)光譜、動(dòng)態(tài)光散射、激光測(cè)距、粒子物理和精確時(shí)間協(xié)議同步測(cè)試等諸多領(lǐng)域。

Time Tagger 20 產(chǎn)品特色：

硬件特色：

-最小時(shí)間抖動(dòng)低至34ps（RMS抖動(dòng)）

-最小時(shí)間組距為1 ps（ bin width）

-八個(gè)通道同時(shí)測(cè)量

-具備虛擬通道擴(kuò)展功能

-死時(shí)間低至6ns

-檢測(cè)上升沿和下降沿

-提供內(nèi)置邏輯分析儀

-支持所有常見(jiàn)的SPAD，PMT和SNSPD

軟件特色：

- 界面清新簡(jiǎn)潔，易于操作

- 支持on the fly數(shù)據(jù)處理模式，實(shí)時(shí)檢測(cè)所有的輸入信號(hào)

- 一鍵靈活定義輸入延遲，時(shí)間分辨率可達(dá)1ps

-支持處理高頻信號(hào)，提供軟件過(guò)濾模式，采集有效數(shù)據(jù)

-可同時(shí)進(jìn)行多種測(cè)試模式：TDC, 符合計(jì)數(shù)，邏輯分析，自相關(guān)，互相關(guān)，多開(kāi)始與多停止直方圖

-可根據(jù)你的需要拓展設(shè)置虛擬通道，如求和或符合

-提供Python，Matlab，LabVIEW，C ++，C＃.NET開(kāi)發(fā)庫(kù)，并定期更新，適用Windows 7和10（32和64位），Linux系統(tǒng)。

Time Tagger系列產(chǎn)品規(guī)格參數(shù)

產(chǎn)品型號(hào)		Time Tagger 20
產(chǎn)品型號(hào)		Time Tagger 20
時(shí)間精度	RMS 抖動(dòng)	34 ps
	半峰寬抖動(dòng)	80 ps
	分辨率	1 ps
數(shù)據(jù)處理能力	輸入通道數(shù)	8
	死時(shí)間	6 ns
	傳輸速率	8.5 M tags/s
	猝發(fā)內(nèi)存	8 M tags
	輸入頻率	167 MHz
輸入信號(hào)	輸入阻抗	50 Ω
	輸入信號(hào)范圍	0 to 3 V
	輸入水平(無(wú)害)	-0.3 to 5 V
	觸發(fā)范圍	0 to 2.5 V
	最小脈沖寬度	1 ns
	最小脈沖高度	100 mV
外部時(shí)鐘	頻率	-
	耦合方式	-
	幅值	-
通用參數(shù)	數(shù)據(jù)接口	USB 2.0
通用參數(shù)	尺寸 (L x W x H)	145 x 100 x 50

產(chǎn)品應(yīng)用案例

應(yīng)用一單光子檢測(cè)

Swabian Instruments公司與舍布魯克大學(xué)一起利用室溫單光子探測(cè)器實(shí)現(xiàn)了創(chuàng)紀(jì)錄的低定時(shí)抖動(dòng)。舍魯克的單光子探測(cè)模塊測(cè)量的雙光子符合TCSPC相關(guān)與Swabian Instruments新的Time Tagger Ultra HiRes中的預(yù)發(fā)布單元相結(jié)合，產(chǎn)生了總抖動(dòng)為20.3 ps FWHM的結(jié)果。這與單個(gè)SPAD探測(cè)器的單光子定時(shí)分辨率12.5 ps FWHM相一致。

應(yīng)用二掃描熒光顯微鏡

下圖展示的案例是一個(gè)圍繞單個(gè)Time Tagger 20構(gòu)建的多功能可擴(kuò)展掃描熒光顯微鏡系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅可用于測(cè)量光子的反聚束和熒光壽命/FLIM，還可直接用來(lái)獲取共聚焦圖像、電子自旋共振掃描、脈沖電子自旋共振以及后者的任意組合。不止于此：一個(gè)Time Tagger 20就可以讓您將系統(tǒng)輕松擴(kuò)展至超分辨率光學(xué)成像，如STED或PALM。這種顯微鏡系統(tǒng)已被用于研究金剛石和碳化硅中的缺陷，此類(lèi)研究已在多家研究機(jī)構(gòu)中展開(kāi)，如斯圖加特大學(xué)（德國(guó)）、慕尼黑大學(xué)（德國(guó)）、牛津大學(xué)（英國(guó)）和麻省理工學(xué)院（美國(guó)）。

只需要把您所有的原始信號(hào)全部連接到Time Tagger 20，然后，您就可以準(zhǔn)備進(jìn)行大量的實(shí)驗(yàn)。

應(yīng)用領(lǐng)域

時(shí)間相關(guān)光子計(jì)數(shù)（TCSPC）
熒光壽命成像（FLIM）
單光子顯微鏡-固體缺陷、量子點(diǎn)、單分子
線性光學(xué)量子計(jì)算與光學(xué)量子電路
超高分辨率顯微鏡-STED，PALM和STORM
冷原子，EIT，里德堡原子
冷離子和離子阱量子計(jì)算

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