TSI 3000 LIBS激光誘導擊穿光譜原理: 高能激光把樣品激發為氣體, 氣體進入分析的光學系統得到低濃度元素含量(低ppm級別)!
提供: 樣品表面的二維(X-Y)元素分布和元素的深度(Z)分布.
優點: 檢測范圍廣, 不需要樣品前處理. 樣品是固體就可以.
如果你正在使用XRF, AA, ICP, 你就可以考慮這*的技術. 這就是美國宇航局在火星使用的技術.
TSI 3000 LIBS激光誘導擊穿光譜 快速，簡單，直接分析: 全新設計的工業級元素分析系統可分析從氫（H）到鈾（U）的元素，包括那些使用XRF（X射線熒光）和其它方法不能準確分析的輕元素在內。此外，它不需專業的大師級高級技術人員操作它–普通的技術員就可快速，簡單地對其地進行校準和測量，并生成所需的分析報告。使用LIBS，無需進行一些耗時的樣品前處理（如消解等），可以直接對樣品進行分析。
技術簡介: 該元素系統儀采用基于LIBS（激光誘導擊穿光譜）技術的原理。其中高功率激光在待分析材料表面可產生明亮的火花（或等離子體），然后，攜帶樣品信號的光被*的光譜儀和檢測系統檢測。元素的熒光直接與待分析材料的元素濃度相關。與其它元素分析的技術相比，LIBS所具有的*分析性能優勢相當明顯。特別是，它對材料中存在的絕大多數元素（包括一些其它技術不能檢測的重要低原子序數元素如氫和碳）都相當靈敏。由于幾乎無需進行樣品前處理，從而使分析效率顯著提高，大大降低了分析成本。可以同時檢測所有元素的濃度，分析時間約20秒，這與其它分析技術相比，具有顯著優勢。
