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北京思普特科技有限公司


當前位置：北京思普特科技有限公司>>分析儀器>>質譜儀器>>IONTOF 飛行時間二次離子質譜TOFSIMS M6型

IONTOF 飛行時間二次離子質譜TOFSIMS M6型

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產品型號

品       牌

廠商性質其他

所  在  地北京市

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更新時間：2023-08-11 19:32:12瀏覽次數：163次

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經營模式：其他

商鋪產品：124條

所在地區：北京北京市

聯系人：李經理,陶經理

產品簡介

詳細介紹

核心參數

  • 質量分辨率26000

  • 質量分析范圍> 12000 u

  • 原始束流或速能量0-30kV

  • 儀器種類飛行時間


產品介紹

全新 M6 — — 飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）*科技


M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基礎上開發的新一代飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）儀器，對一次離子源（LMIG）和質量分析器（TOF Analyser）進行了突破性的改進。

此外，在硬件方面還增加了 MS/MS 功能選項，重新設計了加熱和冷卻系統；在軟件方面新增了多元統計分析（MVSA）軟件包。其設計保證了 SIMS 應用在所有領域的性能。

新的突破性離子束和質量分析器技術使 M6 成為二次離子質譜（SIMS）儀器中的耀眼光芒、工業和學術研究的理想工具。


全新 M6 具有以下突出優勢：


1      新型 Nanoprobe 50 具有高橫向分辨率 (< 50="">


2      質量分辨率 > 30,000


3      的延遲提取模式可同時實現高傳輸，高橫向質量


4      廣域的動態范圍和檢測限


5      用于闡明分子結構具有 CID 片段功能的 TOF MS/MS


6      *智能的 SurfaceLab 7 軟件，包括集成的多元統計分析 (MVSA) 軟件包


7      新型靈活按鈕式閉環樣品加熱和冷卻系統，可長期無人值守運行




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