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蘇州銀瑞計量儀器有限公司
Mitutoyo/三豐表面粗糙度儀|SV-3100|SV-2100|SV-1000
公司產品涵蓋:光學儀器、測量儀器、測繪儀器、實驗儀器、分析儀器、電化學儀器、物理儀器等方面。各類儀器儀表廣泛應用于:機械制造、汽車工業、航空航天、塑膠模具、科研單位、教學領域等行業。
加工定制 | 否 | 類型 | 表面粗糙度儀 | 品牌 | Mitutoyo/三豐 |
型號 | SV-3100 | 測量范圍 | 2400 | 測量參數 | Ra,Rq,Rz,Ry,Rz(JIS),Ry(DIN),Rc,Rp |
取樣長度 | 100/200(mm)(mm) | 評定長度 | 100/200(mm)(mm) | 掃描長度 | 100/200(mm)(mm) |
重量 | 140(kg)(kg) | 外型尺寸 | 756X782X966mm(mm)(mm) |
三豐表面粗糙度測量儀
特點:
SV-3100系列產品可進行高精度、高水平分析,多功能3D表面粗糙度分析,微細輪廓測量,以及原有的表面粗糙度測量。?自動調水平工作臺、3軸調整臺等外部設備的應用,有效增強了該產品的操作性能,同時也真正實現了自動測量。?安裝了專業資料分析軟件SURFPAK-SV使用這一軟件,可對從車間和實驗室中得到的資料進行統一格式的管理。?采用陶瓷制作的X軸驅動部導軌,因為陶瓷具有*的防磨損性能。無需潤滑油也能正常工作。?為了保證高精度測量,在X軸和Y軸(選件)上都內置了高清晰度的玻璃尺(X軸分辨率:0.05μm, Y軸分辨率:1μm)因為要保證SV-3100系列產品具有高度的可靠性,特別是對于水平粗糙度參數(S, Sm), X軸的分辨率就必須達到相當的水平。?配有高精度測針。?配有多種功能,如“直線度補償功能”,可確保X軸的線性精度;“圓度補償功能”,可保證測針的垂直移動;以及“針尖半徑補償功能”等。?測針和測針導頭都可輕松替換。可選測針和滑軌可適應各種粗糙度測量的需要,如小孔測量、深孔測量等。?在各種型號中,還提供了易于操作的控制箱。控制箱與主機分離,可遙控執行定位、開始/停止測量、返回以及遠程進行其他操作。驅動部的上/下位置和X軸的移動都可手動進行微調。
技術參數X軸 測量范圍: 100mm或200mm 分辨率: 0.05μm 檢測方法:線性編碼器 驅動速度: 0 - 80mm/s 測量速度: 0.02 - 5mm/s移動方向:向后 直線度: (0.05+1L/1000)μm* (0.5μm/200mm:測量范圍為200mm的型號) 傾角范圍: ±45oZ2軸(立柱) 垂直移動: 300mm或500mm、動力驅動 分辨率: 1μm 檢測方法: ABSOLUTE線性編碼器 驅動速度: 0 - 20mm/s檢測器 范圍/分辨率: 800μm / 0.01μm, 80μm / 0.001μm, 8μm / 0.0001μm (使用測頭選件時,zui大可達2400μm) 檢測方法:無軌/有軌測量 測力: 4mN或0.75mN (低測力型) 測針針尖:金剛石、90o / 5μmR (60o / 2μmR:低測力型) 導頭曲率半徑: 40mm 檢測方法:差動電感式性能參數:
型號 | SV-3100S4 | SV-3100H4 | SV-3100W4 | |||
貨號(公制) | 178-471-1 | 178-471-2 | 178-472-1 | 178-472-2 | 178-473-1 | 178-473-2 |
貨號(英制) | 178-481-1 | 178-481-2 | 178-482-1 | 178-482-2 | 178-483-1 | 178-483-2 |
貨號(公制) | 178-451-1* | 178-451-2* | 178-452-1* | 178-452-2* | 178-453-1* | 178-453-2* |
貨號(英制) | 178-461-1* | 178-461-2* | 178-462-1* | 178-462-2* | 178-463-1* | 178-463-2* |
檢測器測力 | 0.75mN | 4mN | 0.75mN | 4mN | 0.75mN | 4mN |
X軸測量范圍 | 100mm | 100mm | 100mm | |||
垂直移動 | 300mm電動立柱 | 500mm電動立柱 | 500mmmanual立柱 | |||
花崗石座尺寸 | 600 x 450mm | 600 x 450mm | 1000 x 450mm | |||
外觀尺寸 | 756 x 482 x 966mm | 756 x 482 x 1166mm | 1156 x 482 x 1176mm | |||
重量 | 140kg | 150kg | 220kg | |||
*無X軸傾斜功能 | ||||||
型號 | SV-3100S4 | SV-3100H4 | SV-3100W4 | |||
貨號(公制) | 178-476-1 | 178-476-2 | 178-477-1 | 178-477-2 | 178-478-1 | 178-478-2 |
貨號(英制) | 178-486-1 | 178-486-2 | 178-487-1 | 178-487-2 | 178-488-1 | 178-488-2 |
貨號(公制) | 178-456-1* | 178-456-2* | 178-457-1* | 178-457-2* | 178-458-1* | 178-458-2* |
貨號(英制) | 178-466-1* | 178-466-2* | 178-467-1* | 178-467-2* | 178-468-1* | 178-468-2* |
檢測器測力 | 0.75mN | 4mN | 0.75mN | 4mN | 0.75mN | 4mN |
X軸測量范圍 | 200mm | 200mm | 200mm | |||
垂直移動 | 300mm電動立柱 | 500mm電動立柱 | 500mmmanual立柱 | |||
花崗石座尺寸 | 600 x 450mm | 600 x 450mm | 1000 x 450mm | |||
外觀尺寸 | 766 x 482 x 966mm | 766 x 482 x 1166mm | 1166 x 482 x 1176mm | |||
重量 | 140kg | 150kg | 220kg |
測量軟件功能: SURFPAK-SV評估輪廓P (主輪廓), R (表面粗糙度輪廓), WC, WCA, WE, WEA,DIN4776輪廓、包絡殘余線、粗糙度motif、波形motif評估參數Ra, Rq, Rz, Ry, Rz(JIS), Ry(DIN), Rc, Rp, Rpmax, Rpi, Rv, Rvmax, Rvi,Rt, Rti, R3z, R3zi, R3y, S, Pc (Ppi),Sm, HSC, mr, δc, plateau ratio,mrd, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Δa, Δq, λa, λq, Sk, Ku, Lo, Lr, A1,A2 粗糙度motif參數: Rx, R, AR, SR, SAR, NR, NCRX, CPM 波形motif參數: Wte, , W, AW SW, SAW, NW分析圖表ADC, BAC1, BAC2、功率譜圖、自相關圖、Walsh功率譜圖、Walsh自相關圖、傾斜分布圖、局部峰值分布圖、參數分布圖濾波類型2CR-75%, 2CR-50%, 2CR-75% (相位校正),2CR-50% (相位校正),高斯-50%截止波長*λc: 0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mmfl: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mmfh: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm取樣長度(L)*0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm取樣長度 傾斜補償、R平面(曲面)補償、橢圓補償、拋物線補償、 雙曲線補償、二次曲線自動補償、多項式補償、 多項式自動補償*可在0.025mm至zui大移動長度間任意長度。
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主營產品:日本三豐Mitutoyo量具,德國馬爾Mahr量具,大理石平臺,三坐標|影像儀,投影儀,高度規,硬度計,涂層測厚儀,工具顯微鏡,圓度儀,輪廓儀
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