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蘇州胤煌精密儀器科技有限公司


美國MAS粒度Zeta電位分析儀

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產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地蘇州市

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更新時間:2023-12-02 12:13:00瀏覽次數(shù):142次

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品參數(shù)美國MAS粒度Zeta電位分析儀
可以測試:粒徑、Zeta電位、滴定、電導等

詳細介紹

產(chǎn)品參數(shù)

美國MAS粒度Zeta電位分析儀
可以測試:粒徑、Zeta電位、滴定、電導等。
對于高達60%(體積)濃度的樣品,也無需進行稀釋或樣品前處理,即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。
屬性
產(chǎn)品名稱
型號
廠商性質(zhì)
訪問量
更新時間
詳情
美國MAS粒度Zeta電位分析儀
ZetaAPS
美國進口
5次
2023-02-21

產(chǎn)品詳情

美國MAS粒度Zeta電位分析儀

Zeta電位測量方法有哪些?

  Zeta電位又叫電動電位或電動電勢(ζ-電位或ζ-電勢),是指剪切面(Shear Plane)的電位,是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標。


  由于分散粒子表面帶有電荷而吸引周圍的反號離子,這些反號離子在兩相界面呈擴散狀態(tài)分布而形成擴散雙電層。根據(jù)Stern雙電層理論可將雙電層分為兩部分,即Stern層和擴散層。當分散粒子在外電場的作用下,穩(wěn)定層與擴散層發(fā)生相對移動時的滑動面即是剪切面,該處對遠離界面的流體中的某點的電位稱為Zeta電位或電動電位(ζ-電位)。即Zeta電位是連續(xù)相與附著在分散粒子上的流體穩(wěn)定層之間的電勢差。它可以通過電動現(xiàn)象直接測定。


測量Zeta電位的方法主要有:

 

電泳法-當電場施加于電解質(zhì)時,懸浮在電解質(zhì)中的帶電粒子被吸引向相反電荷的電極,作用于粒子的粘性力傾向于對抗這種運動。當這兩種對抗力達到平衡時,粒子以恒定的速度運動,我們一般稱這個速度通為電泳遷移率。

 

電滲法-單位場強下的液體移動速度稱為電滲速度。液體的電滲速度與固液兩相間的ξ電勢成簡單的正比關系,所以可以利用電滲來測量ξ電勢,但此法只限于能形成毛細管或多孔介質(zhì)的材料。

 

流動電位法-流動電勢是指當電解質(zhì)溶液在一個帶電荷的絕緣表面流動時,表面的雙電層的自由帶電荷粒子將沿著溶液流動方向運動,這些帶電荷粒子的運動導致下游積累電荷,在上下游之間產(chǎn)生電位差就是流動電勢。

 

超聲電聲法-在膠體溶液兩側(cè)施以電壓,帶點粒子運動會產(chǎn)生聲波,測量所產(chǎn)生的聲波,就可以計算顆粒的動態(tài)遷移率,后通過計算得到Zeta電位

 

美國MAS粒度Zeta電位分析儀

典型應用:

綜合穩(wěn)定水泥漿,陶瓷,化學機械研磨,煤漿,涂料,化妝品,環(huán)境保護禪選法礦物富集,食品工業(yè),乳膠,微乳,混合分散體系,納米粉,無水體系,油漆成像材料。

主要特點:

1)能分析多種分散物的混合體;

2)無需依賴Double Layer模式,精確地判定等電點;

3)可適用于高導電(highly conducting)體系;

4)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

5)可精確測量無水體系;

6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術,無需先測量粒度即可進行電位測量;

7)樣品的高濃度可達60%(體積比),被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量;

8)具有自動電位滴定功能;

優(yōu)于光學方法的技術優(yōu)勢:

1)被測樣品無需稀釋;

2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

3)不需定標;

4)能分析多種分散物的混合體;

5)高精度;

6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um

美國MAS粒度Zeta電位分析儀

優(yōu)于electroactics方法的技術優(yōu)勢:

1)無需定標;

2)能測更寬的粒徑范圍;

3)無需依賴Double Layer模式

4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲;

5)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

6)可適用于無水體系;

7)可適用于高導電(highly conducting)體系;

優(yōu)于微電泳方法的技術優(yōu)勢:

1)無需稀釋,固合量高達60%;

2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

3)高精度(±0.1mv);

4)低表面電荷(可低至0. 1mv);

5)electrosmotic flow不影響測量;

6)對流(convection)不影響測量;

7)可精確測量無水體系;

 

技術參數(shù):

1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000µm

2)可測量參數(shù):粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點IEP、E5A、電導率、PH、溫度、聲衰減;

3)Zeta電位測量范圍:+/-500 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);

4)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分數(shù));

6)樣品體積:30-230ml;

7)PH范圍:0~14;

8)電導率范圍:0~10 s/m

 

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