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廣州佳睿科學儀器有限公司


電子探針EPMA-8050G

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更新時間:2024-06-12 10:47:42瀏覽次數:96次

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產品簡介

“TheGrandEPMA"誕生搭載場發射電子光學系統、將島津EPMA分析性能發揮到從SEM觀察條件到1μA量級,在各種束流條件下都擁有空間分辨率的場發射電子光學系統

詳細介紹

 

“The Grand EPMA" 誕生

 

搭載場發射電子光學系統 將島津EPMA分析性能發揮到

SEM觀察條件到1μA量級,在各種束流條件下都擁有空間分辨率的場發射電子光學系統。結合島津傳統的高性能X射線譜儀,將分析性能發揮至。

當之無愧的“The Grand EPMA" ,水準的EPMA誕生!

超高分辨率面分析

對碳膜上Sn球放大3萬倍進行面分析。即使是SE圖像(左側)上直徑只有50nm左右的Sn顆粒,在X射線圖像(右側)上也是清晰可見。

 

 

 

技術實現

 的空間分辨率

EPMA可達到的別的二次電子圖像分辨率3nm(加速電壓30kV)分析條件下的二次電子分辨率。(加速電壓10kV時20nm@10nA/50nm@100nA/150nm@1μA)

 二次電子圖像分辨率3nm

碳噴鍍金顆粒的觀察實例。實現分辨率

3nm(@30kV)。相對較高的束流也可將電子束壓

細聚焦,更加容易的獲得高分辨率的SEM圖像。

 

 

 

 大束流超高靈敏度分析

實現3.0μA(加速電壓30kV)的束流。

全束流范圍無需更換物鏡光闌。

 最多可同時搭載5通道高性能4英寸X射線譜儀

無人可及的52.5°X射線取出角。

4英寸羅蘭圓半徑兼顧高靈敏度與高分辨率。

最多可同時搭載5通道相同規格的X射線譜儀。

 全部分析操作簡單易懂

全部操作僅靠一個鼠標就可進行的*可操作性。

追求「易懂」的人性化用戶界面。

搭載導航模式,自動指引直至生成報告。

超高靈敏度面分析

使用1μA束流對不銹鋼進行5000倍的面分析。精確地捕捉到了Cr含量輕微不同形成的不同的相(左側),同時也成功地將含量不足0.1%的Mn分布呈現在我們眼前(右側)。

 

 

 

實現微區超高靈敏度分析的*技術

 

 

 

1 高亮度肖特基發射體

場發射電子槍采用的肖特基發射體比一般傳統SEM使用的發射體針尖直徑更大,輸出更高。即可以保持其高亮度,還可提供高靈敏度分析的穩定大電流。

2 EPMA專用電子光學系統

電子光學系統,聚光透鏡盡可能的接近電子槍一側,交叉點不是靠聚光透鏡形成,而是由安裝在與物鏡光闌相同位置上,具有獨立構成與控制方式的可變光闌透鏡來形成交叉點的(日本:第4595778號)。簡單的透鏡結構,既能獲得大束流,同時全部電流條件下設定最合適的打開角度,將電子束壓縮到最細。當然是不需要更換物鏡光闌的。

3 超高真空排氣系統

電子槍室、中間室、分析腔體之間分別安裝有篩孔(orifice)間隔方式的2級差動排氣系統。中間室與分析腔體間的氣流孔做到最小,以控制流入中間室的氣體,使電子槍室始終保持著超高真空,確保發射體穩定工作。

4 高靈敏度X射線譜儀

最多可同時搭載5通道兼顧高靈敏度與高分辨率的4英寸X射線譜儀。52.5°的X射線取出角在提高了X射線信號的空間分辨率的同時,又可減小樣品對X射線的吸收,實現高靈敏度的分析。


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