Anasys nanoIR3 納米紅外光譜及成像系統

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更新時間：2024-09-28 07:40:23瀏覽次數：118次

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武漢瑞德儀科技有限公司

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產品簡介

10nm以下超高空間分辨率納米紅外光譜儀

詳細介紹

使用AFM-IR技術的nanoIR3具有小于10 nm分辨率的性能

基于原子力顯微鏡（AFM）的紅外光譜技術（AFM-IR），使用 AFM 探針對樣品局部通過紅外吸收產生的熱膨脹信號進行檢測。因此，AFM-IR 技術不僅擁有 AFM 的空間分辨率，而且可以進行基于紅外光譜的化學分析和成分分布成像。以多年行業的 AFMIR 儀器研發制造為基礎，融合的技術，全新的 Bruker Anasys nanoIR3 系統集成了納米尺度紅外光譜技術、化學成像、材料性質成像等一系列功能，以其的性能在生命科學、化學和材料學領域有著廣泛的應用。

nanoIR3系統的主要特點

1）Tapping AFM-IR 技術可以實現小于10 nm 分辨率的化學成像

2） HYPERspectra 技術實現高性能的納米尺度 FTIR 光譜

3）納米尺度材料性質分布

4）可匹配行業 FTIR 數據庫

Tapping AFM-IR技術實現小于10 nm分辨率的化學成像

申請中全新的Tapping AFM-IR成像技術實現了結合空間分辨率與高成像速度的化學成像技術。無論您的目標是對聚合物進行化學成分分布表征，亦或是對最小的污染物顆粒或對的多層膜體系進行化學成分分析，都可以輕松快捷的獲得高分辨率的化學成像。

HYPERspectra實現數秒內高速光譜采集

布魯克HYPERspectra激光技術將共振增強AFM-IR技術擴展至更廣的光譜范圍(包括OH，CH伸縮振動以及N-H伸縮振動區域)。這項專有技術為更為廣泛的應用所必須的分辨率與靈敏度設定了新標準，同時仍可以在納米尺度下提供杰出的直接關聯FTIR光譜。

的空間分辨率和單層靈敏度

專有的Tapping AFM-IR技術和HYPERspectra技術樹立了分辨率與靈敏度的新標準，在保持單層靈敏度的同時，實現了小于10 nm的空間分辨率。

納米尺度材料性質分布成像

集成化、全功能的AFM系統具有多種熱學、力學以及電學模式進行材料性質分表征，以實現的多模式表征在材料學和生命科學中的廣泛應用。

POINTspectra技術成像與光譜采集

nanoIR3還可以實現紅外化學成像對感興趣特征的化學變化表征。的POINTspectra功能使用單個激光光源提供點光譜采集和化學成像功能，從而縮短數據采集時間，提供了一個更具成本效益的研究解決方案

與業內FTIR數據庫匹配

nanoIR3提供了高質量的紅外光譜，可以將其導出到業內FTIR數據庫中以鑒別樣品成分。

環境控制

nanoIR3提供多種樣品環境控制功能，包括對溫度、濕度以及多種氣體氛圍的控制。

nanoIR3 技術參數
激光器波數范圍	HYPERspectra QCL 780 – 1800 cm-1 FASTspectra OPO 2710 – 3600 cm-1 FASTspectra QCL option 950 – 1900 cm-1
X-Y-Z 掃描范圍	50 µm × 50 µm × 6 µm
標準成像模式	輕敲模式；相位成像模式；接觸模式；側向力模式；力曲線模式
標準IR模式	Tapping AFM-IR 模式； FASTmapping 模式；共振增強 AFM-IR 模式
可選成像模式	納米熱學分析(nanoTA)；掃描熱學顯微鏡(SThM)；導電原子力顯微鏡（CAFM）；開爾文探針原子力顯微鏡(KPFM)；洛倫茲接觸共振(LCR)
AFM可選配件	環境控制腔；加熱冷卻模塊；液下成像模塊