| 測量殘余奧氏體的含量，對于熱處理的控制是非常重要的，X射線衍射法（XRD）是可以測量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法，殘余奧氏體的測量遵循國際標準ASTM E975-03規則。 殘余奧氏體 鋼的硬化過程是首先加熱到奧氏體相，然后淬火到室溫轉變為硬質的馬氏體相。奧氏體在高溫鋼中呈現面心立方結構（FCC），冷卻時，鋼體大部分轉化為體心立方結構（BCC）的鐵素體，或者轉變為體心正方結構（BCT）的馬氏體。根據冷卻鋼的速率，會有一部分鋼仍為奧氏體（通常為0-40%），因此稱為殘余奧氏體。 奧氏體的結構比鐵素體還有馬氏體的結構都要大，如果在轉變過程中有殘余奧氏體存在，隨著時間的延長，產品中的殘余奧氏體會轉變為其他相體，這些變化會導致產品的形狀發生改變。此外，其他的物理性能，如硬度和強度，都會隨著不同相體的轉變而發生變化，這些變化最終會影響到產品的使用壽命。 X射線衍射法來測量殘余奧氏體的百分比含量 X射線衍射法可以準確測定鋼熱處理后殘余奧氏體的含量，能夠為鋼鐵熱處理過程控制提供可靠保證，提高產品質量。 X射線衍射法是目前為止測量鋼體中殘余奧氏體含量最準確的方法。根據ASTM E975-03的X射線測量鋼中殘余奧氏體近晶體隨機取向的標準方法，ARE X這款儀器能夠很輕松檢測出鋼體中殘余奧氏體的含量。 由于奧氏體相結構與其他相的結構不同，在不同的測試點，奧氏體會產生于鐵素體和馬氏體不同的衍射峰值。鋼中相的總數和與其衍射峰值的強度成正比。簡單來說，殘余奧氏體總的含量與奧氏體峰值的強度和其他相峰值強度比有關。我們利用X射線衍射儀采集四個衍射峰值來確定殘余奧氏體的濃度，兩個分別是鐵素體和馬氏體，兩個是奧氏體。通過四個峰值強度的對比可以獲得樣品中殘余奧氏體的百分比含量。 ARE X衍射儀可以測量奧氏體（220）（311）、鐵素體（200）（211）的衍射峰值強度，并分別提供四個奧氏體/鐵素體的峰值強度比。通過多衍射峰測量方式能夠減少晶體優化取向的帶來的影響，同時對檢測到的碳化物干擾加以計算。 樣品制備 標準的金相濕研磨和拋光方法，表面拋光： 由碳化硅或氧化鋁砂紙 600 到 80 目； 表面研磨： 6 到 0.2 μ m 的金剛石或氧化鋁瓷。 ARE X衍射儀技術參數 | X射線發生器 | 輸出功率 | 3KW | | 輸出穩定性 | <0.01% (電源供給10%的波動） | | 輸出電壓 | 60KV | | 輸出電流 | 60mA | | 電壓步寬 | 0.1KV | | 電流步寬 | 0.1mA | | 波動 | 0.03% rms < 1kHz, 0.75% rms > 1kHz | | 預熱與電路 | 自動預熱和斜坡控制電路 | | 輸入電壓 | 230 V +/- 10%, 50 或60 Hz, 單相 | | X射線光管 | 光管類型 | 玻璃（可選陶瓷），Mo靶材，細焦斑（可根據要求選其他型號） | | 焦斑尺寸 | 0.4 x 8 mm FF (可選0.4 x 12 mm LFF; 1 x 10 mm NF) | | 準直 | 單毛細管準直器:直徑1 - 2毫米 | | 輸出電壓 | 3KV | | 測角儀 | 配置 | 垂直測角儀 | | 掃描角范圍 | 27° < 2θ< 40° | | 角準確度 | ± 0.001° | | 樣品臺 | 尺寸 | 110 mm x 150 mm | | 探測器 | 類型 | 高分辨率，帶直接耦合（微米）光纖輸入的X射線數碼攝像儀和帶制冷CCD | | 機體 | 尺寸 | 658 mm X1059 mm X762 mm | | X射線泄露量 | < 1 mSv/年 （按照國際準則充分安全屏蔽） | | 處理單元 | 計算機類型 | 個人計算機 | | 控制對象 | X射線發生器、探測器和數據庫 | | 基本數據處理 | 建立校準曲線，殘余奧氏體計算 | 儀器特性 符合國際標準：ASTM E975-03 使用精密的自動反饋控制電路獲得的X射線發生器穩定性。 自動調整高電壓與電流輸出脈動值。 大功率、優質的玻璃（陶瓷）X 射線管，電壓可至60KV。 高聚焦單毛細管準直器。 2θ角度范圍：27 to 40°。 樣品臺尺寸：110 mm x 150 mm。 高分辨率CCD探測器。 采集時間：小于5分鐘。 雙安全防輻射電路模塊。 自帶校準。 | 
