上海儀電物理光學(xué)儀電物光SGW® X-4B 顯微熔點(diǎn)儀

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產(chǎn)品簡介

測定物質(zhì)的熔點(diǎn)

詳細(xì)介紹

測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、燃料、香料等晶體有機(jī)化合物之測定。儀器采用顯微鏡觀察方法，既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測定。
SGW® X-4A、SGW® X-4B帶有防風(fēng)罩，減少了環(huán)境對測試結(jié)果的影響。
【熔點(diǎn)儀，顯微熱分析儀易耗品選購】
毛細(xì)管：90mm適用于WRS系列儀器、120mm適用于WRR系列儀器。
標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)：奈、乙二酸、蒽醌等。
載玻片/蓋波片：適用儀器WRX-2S、SGW® X-4系列
服務(wù)：提供儀器校驗(yàn)、3Q認(rèn)證。


儀器型號(hào)	GW® X-4B
測量范圍	室溫~320 ℃
測量方法	目視
測量模式	毛細(xì)管法、熱臺(tái)法
最小示值	0.1℃
重復(fù)性	≤200℃±1℃，＞200±2℃
觀察方式	雙目體視顯微鏡
放大鏡倍數(shù)	40×-100×變倍
電源	220V±22V,50Hz±1Hz
儀器尺寸	269×160×435mm
儀器凈重	4kg

關(guān)鍵詞：熔點(diǎn)儀

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