使用微型 ATR FTIR 成像系統(tǒng)在電子和半導體行業(yè)中進行無損故障/缺陷分析

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更新時間：2024-10-17 09:53:34瀏覽次數(shù)：68次

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產(chǎn)品簡介

下載地址2：使用微型ATRFTIR成像系統(tǒng)在電子和半導體行業(yè)中進行無損故障/缺陷分析電子和半導體行業(yè)高度依賴于故障和缺陷分析，以提高工作效率并縮短昂貴的停機時間

詳細介紹

下載地址2：使用微型 ATR FTIR 成像系統(tǒng)在電子和半導體行業(yè)中進行無損故障/缺陷分析

電子和半導體行業(yè)高度依賴于故障和缺陷分析，以提高工作效率并縮短昂貴的停機時間。隨著技術的不斷發(fā)展，生產(chǎn)出的設備越來越小巧，而其生產(chǎn)工藝也越來越復雜精細。因存在顆粒物和化學污染物引起的高成本停機對正常生產(chǎn)操作的影響越來越大。任何污染物的出現(xiàn)都需要停止生產(chǎn)過程，同時準確并可靠地表征缺陷、確定污染源并設法補救。限度縮短完成這一過程所需的時間，

實際上能夠節(jié)省數(shù)百萬美元之多。

安捷倫 Cary 620 化學成像系統(tǒng)利用 FPA（二維矩陣檢測器元件，可產(chǎn)生行和列像素）來采集精密組件表面的真實組成圖像。

關鍵詞：成像系統(tǒng)

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