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日立集團
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熒光分布成像系統采用全新設計，可以測定并觀察樣品的光譜數據。利用AI光譜圖像處理算法*1，不但可以分別顯示樣品的熒光圖像和反射圖像，還可以獲得不同區域的光譜圖像*1(熒光光譜、反射光譜)。*1計算系統是國立信息學研究所的IMARI SATO教授和鄭銀強副教授共同研究的成果。*EEM是日立*科學公司在中國和日本的注冊商標
熒光分布成像系統采用全新設計，可以測定并觀察樣品的光譜數據。利用AI光譜圖像處理算法*1，不但可以分別顯示樣品的熒光圖像和反射圖像，還可以獲得不同區域的光譜圖像*1(熒光光譜、反射光譜)。
新技術可同時獲得熒光 · 反射圖像和光譜
EEM View Analysis 界面（樣品：LED電路板）
均勻的光源系統
同時獲取樣品的熒光 · 反射圖像和光譜！
新型熒光分布成像系統可安裝到F-7100熒光分光光度計的樣品倉內。入射光經過積分球的漫反射后均勻照射到樣品，利用F-7100標配的熒光檢測器可以獲得樣品熒光光譜，結合積分球下方的CMOS相機可獲得樣品圖像，并利用的AI光譜圖像處理算法，可以同時得到反射和熒光圖像。
樣品安裝簡單，適用于各種樣品測試！
樣品只需擺放到積分球上，安裝十分簡單！
為了提高可視性，我們測量了具有精細結構的熒光反射片。
同時獲得光譜數據和樣品圖像
對樣品照射360 nm～700 nm范圍內的單色光以及白光。此時，可獲得不同光源條件下的圖像，同時通過熒光檢測器可獲得熒光光譜。測定完成后，可以查看樣品的三維熒光光譜（激發波長、發射波長、熒光強度）。在專用分析軟件中，可對圖像進行放大，從而顯示不同區域的熒光 · 反射光譜。因此能夠確認光學性能分布不均勻的樣品的反射和熒光光譜。
計算、顯示不同區域的光譜（熒光 · 反射）
顯示分離圖像（熒光 · 反射）
對拍攝到的圖像進行反射光成分圖像與熒光成分圖像分離
利用AI光譜圖像處理算法，將拍攝的圖像分離為反射光成分和熒光成分圖像。結果，反射光成分圖像顯示為橙色，熒光成分圖像顯示為綠色。二者分別與反射光譜與熒光光譜的單色光一致。由此可知，此樣品是橙色反射光和綠色熒光的混合，所以在白光下呈黃色。此外，通過反射圖像和熒光圖像可看出樣品不同區域的光學特性（圖像圖案）差異。放大圖像后可以看到，反射板的微細結構存在規律的間隔，其間隔寬度是200 μm。
主要功能
| 項目 | 內容 |
|---|---|
| EEM View模式 （測定模式） | 三維熒光光譜的測定 |
| 單色光圖像 | |
| 白色光圖像 | |
| 預覽圖像 | |
| 數據處理 | 顯示縮略圖 |
| 顯示三維熒光光譜（等高線，漸變圖） | |
| 顯示激發/發射光譜 | |
| 顯示放大圖像 | |
| 圖像分區（1×1、2×2、3×3、4×4、5×5） | |
| 計算、顯示不同區域光譜（熒光、反射）*1 | |
| 顯示分離圖像（熒光、反射）*1 |
規格
| 項目 | 內容 |
|---|---|
| 照射波長 | 360 nm ～700 nm |
| 相機 | 彩色（RGB）CMOS傳感器 |
| 接口 | USB3.0 |
| 有效像素數 | 1920 × 1200（H×V） |
| 可拍攝波長范圍 | 380 nm ～700 nm |
配置示例
| 名稱 | P/N（序列號） |
|---|---|
| F-7100熒光分光光度計 | 5J1-0042 |
| EEM View配件 | 5J0-0570 |
| R928F光電倍增管 | 650-1246 |
| 副標準光源 | 5J0-0136 |
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