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北京精科智創科技發展有限公司
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XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀諧振腔法是一種重要的材料測量方法，具有廣泛的應用前景
| XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀 XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀 諧振腔法是一種重要的材料測量方法，具有廣泛的應用前景。隨著科技的不斷發展，諧振腔法將會在材料科學、電子工程、通信技術等領域發揮越來越重要的作用。XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀是為中低損耗材料、均質材料、小樣品測試等需求而開發的一款高精度高性價比的材料測試平臺。融合矢量網絡分析儀和試夾具于一體，可進行30MHz到110GHz頻率范圍內的微波復介電常數測試。該系列產品精度高、接口豐富，在科研實驗中能發揮十分重要的作用。 主要特點： 1、 測試精度高，速度快 2、 頻率范圍: 0.1~110.0GHz 3、 系統配置簡單，易操作，測量軟件簡單易用，自動化程度高 主要技術參數： 1、頻率范圍: 0.1~110.0GHz 2、測試溫度:-50~1750℃ 3、電磁參數測試范圍: er'= 1.0~100，tanoc=1.0×10-4 ~ 5×10-2ur'= 0.1 ~10.0，tanou =1.0×103~1.0 一、諧振腔微擾法測試設備 頻率范圍:0.1~40.0GHz測試溫度:室溫～1750℃復介電常數測試范圍: cr'= 1.0 ~30.0 tan&e=2.0×10-~5×102ur'= 0.5~10 tanou = 0.001 ~1.0常溫測試誤差: |Asr'/er'/≤1.5%當sr'=2.0 ~30.0 Acr'|≤ 2.0% × cr'+0.02當r'=1.05~2Atanoe≤ 15.0% tano8+ 2.0x10-4 Aur'/ur'/≤5.0% Atanou|≤ 15% tanou + 5.0x10-4樣品尺寸: 圓棒或方棒狀小樣品材料，直徑:1.0~6.Omm，高度不低于30mm; (實際尺寸視具體情況而定) 2、高Q腔法測試設備 頻率范圍:2.0~7.0 GHz、7.0 ~18.0 GHz測試溫度:室溫~1600℃ 復介電常數測試范圍: cr'=l~10 tanoc=1.0×10-4~1.5×10-2常溫測試誤差: |Acr'/cr'/≤2.0%當sr'=2~10 Acr'|≤ 1.8%x Er'+0.02當sr'=1.05~2Atanoe| ≤ 15% tanoe +1.0×10-4 樣品尺寸: 2.0~7.0GHz 圓片材料直徑:150.0mm，厚度:3.0 ~10.Omm 7.0~18.0 GHz 圓片材料直徑:50.0mm，厚度:1.5~3.0mm
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