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北京時代山峰科技有限公司
參 考 價 | 面議 |
產品型號LEPTOSKOP 2042
品 牌
廠商性質其他
所 在 地
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更新時間:2023-02-23 11:12:33瀏覽次數:311次
聯(lián)系我時,請告知來自 智慧城市網LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀是德國卡爾德意志公司的創(chuàng)立者KARL DEUTSCH先生進行開拓性工作的結晶。自從1950年推出的一臺LEPTOSKOP及隨后的研發(fā)工作,才有了目前的LEPTOSKOP 系列。 KARL DEUTSCH LEPTOSKOP 利用磁感應的方法確定鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度。另外 LEPTOSKOP 可以利用渦流法測量非鐵磁材料上覆蓋的非導電層厚度。
LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀是德國卡爾德意志公司( KARL DEUTSCH )的創(chuàng)立者KARL DEUTSCH先生進行開拓性工作的結晶。
簡介
多功能的儀器的準確測量技術,操作簡便。該方案通過一個快速解鎖代碼表示現(xiàn)場升級包括在內。該LEPTOSKOP 2042用于測量非磁性基片上磁性涂層(根據獲得DIN EN ISO 2178的厚度),并測量電非導電非磁性涂層的導電基板的厚度渦流方法手段(據了DIN EN ISO 2360 ) 。 在同一個舒適的工具的組合就像一個模擬指針顯示為一個類似Windows檔案管理和自由選擇10種不同語言的厚度值的可靠技術,滿足了一項雄心勃勃的用戶的所有愿望。 該LEPTOSKOP 2042年,是一個帶有電池壽命100小時以上的時間,經濟手段。 該儀器記錄的操作時間和數量的測量,所以這些重要的參數是正確的測試設備可追查本身。 彩色橡膠保護皮套包括在供貨范圍和保護與滑帶額外的保護功能,在工業(yè)環(huán)境中的工具。
特點
·大型圖形顯示48毫米× 24毫米
·校準選項
出廠校準,即刻準備測量
標定未知涂層*
零點校準*
一,多箔校準基底上無涂層*
標定涂層材料*
校準數據可以存儲在單獨的單獨校準文件,可以重新從那里加載
·佳顯示模式可選 適應的測量任務*
·輸入和限額監(jiān)測*
·與存儲的數據容易檔案管理,在Windows(三)
·實用的電腦軟件 STATWIN 2002 和 EasyExport
·統(tǒng)計數字*
·統(tǒng)計評價多 999讀數
·小值,大值,平均值,讀數,標準差數,限制監(jiān)控
·當地平均厚度和涂層厚度(通過DIN EN ISO 2808 )
·在線統(tǒng)計,在所有統(tǒng)計值一覽
串行接口進行數據傳輸到RS232或USB | |
電源,可通過電池,充電電池, USB或電源單元 | |
測量范圍: | 0 – 20000um(取決于探頭) |
測量速度: | 高達每秒2讀數 |
存儲: | 高。在9999*140文件讀數 |
測量不確定度: | |
涂層厚度< 100um:1 %的讀數+ / - 1um校準后 | |
涂層厚度> 100um: 1 .. 3讀數+ / - 1um% | |
涂層厚度> 1000um: 3 .. 5讀數+ / - 10um% | |
涂層厚度> 10000um:5閱讀+ / - 100um% |
普通型 |
| 鐵基膜層測厚儀標準套 | 2042F |
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非鐵基膜層測厚儀標準套 | 2042NF |
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鐵基/非鐵基膜層測厚儀標準套 | 2042 |
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數據型 | 鐵基 | 2042 Fe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 EasyExport軟件,操作手冊,質量認證書,儀器箱 | 2042 EF |
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2042 Fe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計和資料模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件,操作手冊,質量認證書,儀器箱 | 2042DF |
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非鐵基 | 2042 NFe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 EasyExport軟件,操作手冊,質量認證書,儀器箱 | 2042ENF |
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2042 NFe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計和資料模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件,操作手冊,質量認證書,儀器箱 | 2042DNF |
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鐵基/非鐵基 | 2042 Fe/NFe Set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 EasyExport軟件,操作手冊,質量認證書,儀器箱 | 2042 E |
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2042 Fe/NFe Data Set----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜層測厚儀,統(tǒng)計和資料模塊,試塊,校正薄膜,附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件,操作手冊,質量認證書,儀器箱 | 2042 D |
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