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篤摯儀器(上海)有限公司
XDV-SDD型儀器是FISCHER產品中性能強大的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探測器(SDD)。50mm?的探測器窗口確保能快速而精確地測量甚至是小面積的測量點
XDV-SDD測量空間寬大,樣品放置便捷,可以放置平整的樣品,也可以放置形狀復雜的大樣品。連續測試或鍍層厚度和元素分布的測量都可以方便地用快速可編程XY工作臺完成。操作很人性化,測量門開啟方便,儀器前部控制面板具備多種功能,日常使用輕松便捷。
XDV-SDD型儀器是FISCHER產品中性能強大的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探測器(SDD)。50mm?的探測器窗口確保能快速而精確地測量甚至是小面積的測量點。此外,儀器還配備了各種不同的濾波片,從而能為不同的測量任務建立優化的激發條件。FISCHERSCOPE XRAY XDVSDD型儀器配備了感應區域大而分辨率良好的硅漂移接收器,這樣在使用大準直器的情況下,可以達到很高的計數率,從而實現良好的重復精度和極低的檢測下限。XDV-SDD極其適合痕量分析中超薄鍍層的測量。由于提高了低能輻射的靈敏度,同時可測元素的范圍也擴“大到更低原子序數的元素,這樣就可以可靠測量空氣中的磷或鋁。
法律條例嚴格限制多種有害物質的含量,例如電子元件,玩具或包裝材料。XDV-SDD使得快速方便地檢測是否符合這些限制成為可能。例如,測量檢出限僅僅幾個ppm的特別重要的化學元素Pb、Hg和Cd等。
金屬中的有害物質,如鋁合金中的Pb, Cd | 玩具:檢測其中的 Pb, Cd, Hg |
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