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FISCHERSCOPE XDV-SDD熒光鍍層測厚儀

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產品型號XDV-SDD

品       牌

廠商性質其他

所  在  地上海市

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更新時間:2022-10-06 12:40:37瀏覽次數:248次

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產品簡介

XDV-SDD型儀器是FISCHER產品中性能強大的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探測器(SDD)。50mm?的探測器窗口確保能快速而精確地測量甚至是小面積的測量點

詳細介紹

產品描述


XDV-SDD測量空間寬大,樣品放置便捷,可以放置平整的樣品,也可以放置形狀復雜的大樣品。連續測試或鍍層厚度和元素分布的測量都可以方便地用快速可編程XY工作臺完成。操作很人性化,測量門開啟方便,儀器前部控制面板具備多種功能,日常使用輕松便捷。


XDV-SDD型儀器是FISCHER產品中性能強大的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探測器(SDD)。50mm?的探測器窗口確保能快速而精確地測量甚至是小面積的測量點。此外,儀器還配備了各種不同的濾波片,從而能為不同的測量任務建立優化的激發條件。FISCHERSCOPE  XRAY XDVSDD型儀器配備了感應區域大而分辨率良好的硅漂移接收器,這樣在使用大準直器的情況下,可以達到很高的計數率,從而實現良好的重復精度和極低的檢測下限。XDV-SDD極其適合痕量分析中超薄鍍層的測量。由于提高了低能輻射的靈敏度,同時可測元素的范圍也擴“大到更低原子序數的元素,這樣就可以可靠測量空氣中的磷或鋁。



應用實例:

法律條例嚴格限制多種有害物質的含量,例如電子元件,玩具或包裝材料。XDV-SDD使得快速方便地檢測是否符合這些限制成為可能。例如,測量檢出限僅僅幾個ppm的特別重要的化學元素Pb、Hg和Cd等。


金屬中的有害物質,如鋁合金中的Pb, Cd

玩具:檢測其中的 Pb, Cd, Hg


特征:

      。帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。*高工作條件: 50kv, 50W
      。X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅漂移探測器
      。準直器: 4個,可自動切換,從直徑0.1mm到3mm
      。基本濾片: 6個,可自動切換帶彈出功能的可編程XY平臺
      。視頻攝像頭可用來實時查看測量位置,十字線上有經過校準的刻度標尺,而測量點實際大小也在圖像中顯示。
      。設計獲得許可,防護全面,符合德國X射線條例第4章第3節

典型應用領域:

      。測量超薄鍍層,例如電子和半導體行業
      。痕量分析,例如按照RoHS,玩具和包材指令檢測有害物質
      。高精度黃金和貴金屬分析光伏行業
      。測量NiP層的厚度和成分


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