德國EPK新型高精度涂層測厚儀MiniTest 7400可以實所有金屬基材上的非破壞性測量。創新的SIDSP數字信號處理技術探頭。大大提高精確度和重現性；測量厚度高達35mm的各種耐磨探頭。MiniTest 7400 探頭可選探頭種類繁多的可換探頭，滿足各種應用要求。可以通過推拉式連接系統輕松地更換探頭。

詳細介紹

高精度涂層測厚儀
• 所有金屬基材上的非破壞性測量
• 多種圖形顯示選項
• 菜單控制界面，更強的數據和配置管理
• 用于簡易配置評估和數據設置報告的PC軟件
• 測量厚度高達35mm的各種耐磨探頭
• SIDSP®技術提升精確度和重現性
MiniTest 7400 探頭
可選探頭
種類繁多的可換探頭，滿足各種應用要求。
可以通過推拉式連接系統輕松地更換探頭。

兩用型FN探頭自動識別基體材料。
與表面接觸后，儀器自動切換到合適的測量原理。因此，應用錯誤會被淘汰，加快了測量進程。

探頭技術參數

標準探頭	HD探頭	量程	低端分辨率	誤差	重復性 (標準偏差)	曲率半徑 (凸/凹)	測量區域直徑(無測量標準)	zui小測量區域直徑(有測量標準)	zui小基體厚度
F05	F05HD	0~0.5mm	0.02μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	1/7.5mm	14mm	5mm	0.3mm
F1.5	F1.5HD	0~1.5mm	0.05μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	1/7.5mm	14mm	5mm	0.3mm
F1.5-90		0~1.5mm	0.05μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	平面/5mm	10mm	5mm	0.3mm
	F2HD	0~2mm	0.1μm	±(1.5μm±0.75%)	±(0.8μm±0.5%)	1.5/10mm	14mm	-	0.5mm
F5	F5HD	0~5mm	0.1μm	±(1.5μm±0.75%)	±(0.8μm±0.5%)	1.5/10mm	14mm	10mm	0.5mm
F15		0-15mm	1μm	±(5μm±0.75%)	±(2.5μm±0.5%)	5/25mm	25mm	25mm	1.0mm
F35		0-35mm	5μm	±(20μm±0.75%)	±(10μm±0.5%)	50/50mm	100mm	-	1.5mm
N0.2	N0.2HD	0~0.7mm	0.02μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	1/7.5mm	14mm	5mm	40μm
N0.7	N0.7HD	0~0.7mm	0.05μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	1/7.5mm	14mm	5mm	40μm
N0.7-90		0~0.7mm	0.05μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	平面/5mm	10mm	5mm	40μm
N2.5	N2.5HD	0~2.5mm	0.1μm	±(1.5μm±0.75%)	±(0.8μm±0.5%)	1.5/10mm	14mm	10mm	40μm
N7		0~2.5mm	1μm	±(5μm±0.75%)	±(0.8μm±0.5%)	15/25mm	23mm	20mm	40μm
FN1.5	FN1.5HD	F：0~1.5mm N：0~0.7mm	0.05μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	1/7.5mm	14mm	5mm	F：0.3mm N：40μm
FN1.5-90		F：0~1.5mm N：0~0.7mm	0.05μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	平面/5mm	10mm	5mm	F：0.3mm N：40μm
FN5	FN5HD	F：0~5mm N：0~2.5mm	0.1μm	±(1.5μm±0.75%)	±(0.8μm±0.5%)	1.5/10mm	14mm	10mm	F：0.5mm N：40μm

注：HD探頭是針對于油漆或粉塵污染等惡劣環境設計的堅固探頭，F2HD特別適用于粗糙表面。

1.多點校準,在實驗室條件下符合提供的標準
2.零點校準，并且校準值和預期的涂層厚度接近
3.使用精密支架，不適用HD探頭
4.如果選擇“快速”，測量速度主要取決于操作
5.根據 DIN 55350第13部分
6.多點校準值優于獲得的數據.
7.包括涂層
探頭設計選擇
不同的線纜插口類型更加靈活，來適應測試要求。每個標準探頭都可以提供直線纜插口或直角設計，后者可以測量難以進入的類似管和中空零件。

對由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環境中提供保護，MiniTest 7400提供了一個特制的堅固探頭系列（HD探頭）。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來保護探頭設備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。

F 2 HD 探頭
對于粗糙表面，“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。
MiniTest 7400 主機技術參數

技術參數MiniTest7400
數據記憶組數	500
存儲數據量	約250000個讀數
統計值(每批組)	讀數個數，zui大值，zui小值，平均值，標準偏差，變異系數，組統計值(標準設置/自由配置)，過程能力指數CP和CPK，直方圖，趨勢圖
校準程序符合標準和規范	ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準
校準模式	多達5點校準，使用者可調節補償值
極限值監控	聲音、視覺報警提示超過極限值
測量單位	μm，mm，cm，mils，inch，thou
操作/存放溫度	-10℃~60℃/-20℃~70℃
數據接口	IrDA®1.0紅外接口，可選USB和RS232適配器
電源	4節AA(LR06型)電池，或可選外接電源(90－240V～/48－62Hz)
規范和標準	160x160像素LCD帶背光
顯示	153mmx89mm32mm
尺寸
重量	310g；(主機包括電池)