用途：Apogee新的DLI-400測量儀設計用于測量400-700納米的光合有效輻射（PAR），是一種低成本的選擇，只在陽光和一些寬帶光源下準確。可以應用測量后的修正系數來提高光源下的準確性；除了測量PAR，DLI-400測量儀還可以計算每日光積分（DLI）和光周期。
DLI-400測量儀有兩種不同的屏幕模式：存儲數據和實時查看數據。在存儲數據屏幕中，它顯示DLI測量值、光照時間和哪一天收集的數據（最多99天以前）。實時查看數據屏幕顯示過去2.5秒內PPFD的運行平均值。
技術參數：
測量重復性 | 小于 0.5 % |
測量范圍 | 0 至 4000 µmol mˉ² sˉ¹ |
長期漂移 | 每年少于 2% |
視野 | 180° |
光譜測量范圍 | (± 5 nm)370 至 650 nm（陽光） |
余弦響應 | ± 5 % 在 75˚ 天頂角 |
響應時間 | 2.5 秒 |
測量頻率 | 3分鐘 |
數據記錄容量 | 99 天（DLI 和光周期），10 天（30 分鐘 PPFD/ePPFD 平均值） |
非線性 | 小于 1 %（ 4000 µmol mˉ² sˉ¹） |
存儲數據分辨率 (PPFD) | 0.1 µmol mˉ² sˉ¹（≥1000時屏幕不顯示小數） |
存儲數據分辨率 (DLI) | 0.1 mol mˉ² 天ˉ¹ |
存儲數據分辨率（光周期） | 0.1小時 |
連接性 | Type--C 數據傳輸的 CSV 文件 |
ADC 分辨率 | 24 位 |
操作環境 | -10 至 60 ℃；0 至 100 % 相對濕度 |
電池壽命 | 6個月 |
重量 | 67g |
