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可變角原位25次衰減全反射ATR

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更新時間:2022-03-23 11:18:17瀏覽次數:96次

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產品簡介

詳細介紹

可變角原位25次衰減全反射ATR

FT-IR或色散儀高靈敏度ATR檢測

特點

· 入射光30°-60°可調

· 25次反射

· 適用于FT-IR或色散儀

· 樣品架配兩個引腳

· 標準 3" x 2" 樣品架盤

· 多種晶體可選

· 可互換樣品架(固體,液體,凝膠)

25 次反射 ATR

可變入射光25次反射ATR (P/N GS11000)是一款豎直方向的ATR晶體附件,入射光在30度-60度快速簡單可調。通過調整樣品架及晶體裝置到適宜的位置,架體后方保持與刻度板設定角度相符。

標準晶體架(P/N GS11001)用于固體樣品,可選配液體架(P/N GS11003)及凝膠架(P/N GS11002)。

為測量25次反射需保證樣品覆蓋梯形晶體正反兩面。

KRS-5是標配的ATR附件晶體,可選配一系列其他晶體如:ZnSe, Ge 及Si 以擴展樣品操作能力及附件

研究范圍。

四塊反射鏡通過調整角度及傾斜度反射、收集晶體的紅外光。附件配備標準的3" x 2"架盤適配于市面上儀器的樣品室,另外底座一角配備了支撐腳。支撐腳高度可調,保證附件在樣品室內的平穩。支撐腳可通過翼形螺母鎖住

應用

? 固體? 液體? 凝膠

? 涂層及薄膜多深度研究

訂購信息

GS11000 入射光可調25次反射ATR附件

含固體架及45度角KRS-5 晶體

可選配件

GS11001 25次反射ATR固體架

GS11002 25次反射ATR凝膠架

GS11003 25次反射ATR液體架

耗材

GS11004 KRS-5 晶體 (45°)

GS11006 Ge 晶體(45°)

GS11009 Si 晶體(45°)

GS11014 ZnSe 晶體(45°)

GS11008 PTFE 墊圈液體架用(1大、1小,5套)


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