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成都精新粉體測試設備有限公司
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JX-2000B顯微顆粒圖像分析儀適用于金剛石、碳化硅、硅灰石、石英粉、*、石墨、鈷酸鋰、碳化硼、白剛玉、氧化鈰云母粉、碳粉、金屬粉等各種礦粉：
玻珠、水泥、藥品、食品、顏料、粉塵、農藥、催化劑等各種粉體或漿料。
| 儀器型號： | JX-2000B | 品牌： | 成都精新 |
| 測量范圍： | 0.5-3000µm | 用途： | 粒度分布、長徑比分布、圓形度分布等 |
JX-2000圖像分析系統包括光學顯微鏡、數字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成。因為粉體形態各異，在借助激光粒度儀測試的同時，選用JX-2000型圖像分析儀，可以更準確的直觀粒度形貌，控制好產品質量。
顆粒圖像測試原理：
顆粒在圖像儀上成像，組成圖像的小單位是像素，每個像素有特定的尺寸。通過對顆粒數量和每個顆粒所包含的像素數量的統計，計算出每個顆粒的等面積圓的直徑，以及長徑比等，再對所有的顆粒進行統計，從而得到粒度分布等信息。
圖像分析的主要過程是：
樣品經顯微鏡放大成像，攝像頭攝得清晰顆粒形貌圖像傳輸到電腦，在電腦上直接觀察粉體顆粒的形貌，通過專有軟件計算分析，得到顆粒個數、面積、周長、直徑、體積、長徑比、短徑比、圓度系數等分布數據及圖像。同時提供D10、D50、D90、D97、平均粒徑、表面積等數據分布圖表。
應用領域
金剛石、碳化硅、硅灰石、石英粉、*、石墨、鈷酸鋰、碳化硼、白剛玉、氧化鈰云母粉、碳粉、金屬粉等各種礦粉：
玻珠、水泥、藥品、食品、顏料、粉塵、農藥、催化劑等各種粉體或漿料。
還可以用于驗證其他粒度測試的手段和方法。
技術參數
| 序號 | 項目 | 指標 | ||
| 分析項目 | 粒度分布、長徑比分布、圓形度分布等 | |||
| 測試范圍 | 放大倍數 | 4000倍 | ||
| 分辨率 | 顯微鏡 | 透反射顯微鏡（可選國產/金相/進口） | ||
| 數字攝像頭(CCD) | 300萬像素/500萬像素 | |||
| 目鏡 | 物鏡 | 5X 、10X 、20X、 5 標尺刻度 | 軟件運行環境 | Windows7 32位 |
| 接口方式 | 接口高速穩定傳輸 |
報告輸出
1、通過對圖像進行處理后，電腦自動統計出顆粒個數、面積、周長、體積、直徑、圓形度分布、長徑比分布、粒度分布數據，以及D10、D50、D90、D97、平均粒徑、表面積等特征值。
2、可將樣品彩色縮略圖顯示到報告中，樣品名稱、測試單位、分散介質等多項信息輸入到報告表頭，可選多種報告格式。
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