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武漢普賽斯儀表有限公司
IGBT器件動態參數測試需要的儀器是一系列的,具體可以找生產廠家普賽斯儀表為您提供檢測方案哦!普賽斯儀表自主研發的高精度臺式數字源表、脈沖式源表、集成插卡式源表、窄脈沖電流源、高精度高壓電源等,*國產空白
選擇普賽斯儀表的理由:
1、國產自主研發
技術雄厚,多項磚利,自主可控
2、可定制化方案
聚焦鮮進器件,提供成熟可落地定制化方案
3、對標進口
國貨精品,品質保障,對標進口產品
IGBT測試難點:
1、由于IGBT是多端口器件,所以需要多個測量模塊協同測試。
2、IGBT的漏電流越小越好,所以需要高精度的設備進行測試。
3、IGBT動態電流范圍大,測試時需要量程范圍廣,且量程可以自動切換的模塊進行測試。
4、由于IGBT工作在強電流下,自加熱效應明顯,脈沖測試可以減少自加熱效應,所以MOSFET需要進行脈沖IV測試,用于評估期間的自加熱特性。
5、MOSFET的電容曲線是其特性表征的重要內容,且與其在高頻應用有密切關系。所以IGBT的電容測試非常重要。
6、IGBT開關特性非常重要,需要進行雙脈沖動態參數的測試。
IGBT器件動態參數測試設備認準武漢生產廠家普賽斯儀表,普賽斯儀表自主研發的高精度臺式數字源表、脈沖式源表、集成插卡式源表、窄脈沖電流源、高精度高壓電源等,*國產空白。主要應用于半導體器件的測試工藝,為客戶提供模塊化硬件、高效驅動程序和高效算法軟件組合,幫助用戶構建自定義解決方案。為半導體封測廠家提供相關測試儀表、測試平臺,以及相關技術服務,滿足行業對測試效率、測試精度,以及低成本的挑戰。
那么IGBT器件動態參數測試需要哪些儀器呢?
E系列高電壓源測單元具有輸出及測量電壓高(3000V)、能輸出及測量微弱電流信號(1nA)的特點。設備工作在D一象限,輸出及測量電壓0~3000V,輸出及測量電流0~100mA。支持恒壓恒流工作模式,同時支持豐富的I-V掃描模式。
用于IGBT擊穿電壓測試,IGBT動態測試母線電容充電電源、IGBT老化電源,防雷二極管耐壓測試,壓敏電阻耐壓測試等場合。其恒流模式對于快速測量擊穿點具有重大意義。
E300高電壓源測單元
P系列脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎上新打造的一款高精度、大動態、數字觸摸源表,匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能,Z大脈沖輸出電流達10A,Z大輸出電壓達300V,支持四象限工作,因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中。P系列源表適用于各行各業使用者,特別適合現代半導體、納米器件和材料、有機半導體、印刷電子技術以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。
P系列脈沖源表
總之,IGBT器件動態參數測試需要的儀器是一系列的,具體可以找生產廠家普賽斯儀表為您提供檢測方案哦!
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